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    xrf檢測(cè)(xrf檢測(cè)儀器)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-08 15:33:08     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 130        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于xrf檢測(cè)的問(wèn)題,以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。

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    本文目錄:

    xrf檢測(cè)(xrf檢測(cè)儀器)

    一、物質(zhì)檢測(cè),有關(guān)xrf測(cè)定的問(wèn)題

    此XRF設(shè)備主要用于海關(guān),因?yàn)榇嗽O(shè)備可快速被步篩選檢貨,但是僅能檢測(cè)點(diǎn)狀大小之面積,會(huì)因?yàn)樗鶞y(cè)樣品的光滑度不勻或厚度不一其結(jié)果會(huì)產(chǎn)生極大的不穩(wěn)定;若海關(guān)用此機(jī)測(cè)出有,需再經(jīng)ICP測(cè)試;如測(cè)出無(wú),則根據(jù)物品性質(zhì)決定放行或送ICP測(cè)試!

    二、如何證明XRF檢測(cè)出的Br超標(biāo),但仍符合RoHS?

    你好!

    因?yàn)橛肵RF檢測(cè)的是總溴的含量(多溴聯(lián)苯+多溴聯(lián)笨醚的含量),但ROHS規(guī)定里,多溴聯(lián)笨醚和多溴聯(lián)苯的限量各是1000PPM,所以他們的總量超過(guò)1000PPM,可以打個(gè)比方說(shuō)他們一個(gè)是500PPM一個(gè)是800PPM,所以用XRF檢測(cè)就會(huì)顯視超標(biāo),這樣的話你就只能拿到第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)去檢測(cè)了,他們一般是采用化學(xué)檢測(cè)方法,可以單獨(dú)的檢測(cè)出多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)笨醚各自的含量,就可以確定到底有沒(méi)有超標(biāo)了

    打字不易,采納哦!

    三、XRF是測(cè)什么物質(zhì)

    測(cè)試環(huán)保的 pb cr cd hg ;六價(jià)鉻(只能測(cè)總鉻) 還有br(只能測(cè)總br)

    四、XRF不能測(cè)到ppm,是怎么計(jì)算出來(lái)的

    有時(shí),ppm代表純數(shù)量單位,即百萬(wàn)分之一(Part Per Million).

    XRF只能測(cè)元素總量,不能確認(rèn)是不是PBDE,PBBS.

    XRF(能量色散型X熒光光譜儀)

    XRF(波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀)

    X射線熒光分析法

    原子發(fā)射與原子吸收光譜法是利用原子的價(jià)電子激發(fā)產(chǎn)生的特征光譜及其強(qiáng)度進(jìn)行分析。X-射線熒光分析法則是利用原子內(nèi)層電子的躍遷來(lái)進(jìn)行分析。X射線是倫琴于1895年發(fā)現(xiàn)的一種電磁輻射,其波長(zhǎng)為 0.01~10nm。在真空管內(nèi)用電加熱燈絲(鎢絲陰極)產(chǎn)生大量熱電子,熱電子被高壓(萬(wàn)伏)加速撞擊到金屬M(fèi)o,Cu,F(xiàn)e,Cr,Rh等材料制成的陽(yáng)極靶上,電子運(yùn)動(dòng)突然停止,電子動(dòng)能部分轉(zhuǎn)變成X射線輻射出來(lái),它包含有高強(qiáng)度的單色X射線——特征X射線外,還有連續(xù)的X射線。

    高能粒子(電子或連續(xù)X射線等)與靶材料碰撞時(shí),將靶原子內(nèi)層電子(如K,L,M等層)逐出成為光電子,原子便出現(xiàn)一個(gè)空穴,此時(shí)原子處于激發(fā)態(tài),隨即較外層電子立即躍遷到能量較低的內(nèi)層空軌道上,填補(bǔ)空穴位。若此時(shí)以X射線的形式輻射多余能量,便是特征X射線。當(dāng)K層電子被逐出后,所有外層電子都可能跳回到K層空穴便形成K系特征X射線。由L,M,N…層躍遷到K層的X光分別為Kα,Kβ,Kγ…輻射。同樣地,逐出L或M層電子后將有相應(yīng)的L系或M系特征X射線:Lα,Lβ…;Mα,Mβ…。Kα,Kβ輻射的波長(zhǎng)λ是特征的,它取決于K,L,M電子能層的能量:

    可以看出,不同元素由于原子結(jié)構(gòu)不同,各電子層的能量不同,所以它們的特征X射線波長(zhǎng)也就各不相同。

    通常人們將X光管所產(chǎn)生的X射線稱為初級(jí)X射線。以初級(jí)X射線為激發(fā)光源照射試樣,激發(fā)態(tài)試樣所釋放的能量不為原子內(nèi)部吸收而以輻射形式發(fā)出次級(jí)X射線,這便是X射線熒光,參見(jiàn)圖14-10。熒光X射線的最大特點(diǎn)是只發(fā)射特征X射線而不產(chǎn)生連續(xù)X射線。試樣激發(fā)態(tài)釋放能量時(shí)還可以被原子內(nèi)部吸收繼而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,此種現(xiàn)象稱為俄歇效應(yīng)。被逐出的電子稱為俄歇電子。俄歇電子的能量也是特征的,但不同于次級(jí)X射線。

    特征X射線的波長(zhǎng)λ隨元素原子序數(shù)Z的增加而變短,兩者的關(guān)系

    射線系的K,S值不同。只要測(cè)得熒光X射線的波長(zhǎng)及其強(qiáng)度,便可確定試樣中所存在的元素及其含量,這是熒光X射線法定性與定量分析的依據(jù)。人們利用X射線熒光光譜來(lái)測(cè)定試樣所產(chǎn)生的特征熒光X射線的波長(zhǎng),其工作原理為:當(dāng)熒光X射線以入射角θ射到已知晶面間距離d的晶體(如LiF)的晶面上時(shí),發(fā)生衍射現(xiàn)象。根據(jù)晶體衍射的布拉格公式λ∝dsinθ可知,產(chǎn)生衍射的入射光的波長(zhǎng)λ與入射角θ有特定的對(duì)應(yīng)關(guān)系。逐漸旋轉(zhuǎn)晶面用以調(diào)整熒光X射線的入射角從0°至90°,在2θ角度的方向上,可依次檢測(cè)到不同λ的熒光X射線相應(yīng)的強(qiáng)度,即得到試樣中的系列熒光X射線強(qiáng)度與2θ關(guān)系的X射線熒光光譜圖,說(shuō)明試樣含有Cr,Mn,F(xiàn)e,Co,Ni,Cu,W等7種金屬元素。至于它們的含量還應(yīng)與含有相應(yīng)元素的標(biāo)準(zhǔn)物的熒光X射線強(qiáng)度相比較而獲得。

    X射線熒光分析法的特點(diǎn)與適應(yīng)范圍是:

    (1)適應(yīng)范圍廣

    除了H,He,Li,Be外,可對(duì)周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。

    (2)操作快速方便

    在短時(shí)間內(nèi)可同時(shí)完成多種元素的分析。

    (3)不受試樣形狀和大小的限制,不破壞試樣,分析的試樣應(yīng)該均勻。

    (4)靈敏度偏低

    一般只能分析含量大于0.01%的元素。

    以上就是關(guān)于xrf檢測(cè)相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問(wèn)題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢,客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。


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