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掃描電子顯微鏡的原理

發(fā)布時間：2023-04-14 10:28:46 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 137

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本文目錄:

1、電子顯微鏡是用什么原理把物體放大的？
2、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？
3、電子顯微鏡的工作原理是什么？
4、電子顯微鏡的工作原理?

掃描電子顯微鏡的原理

一、電子顯微鏡是用什么原理把物體放大的？

分類: 教育/科學(xué) >> 科學(xué)技術(shù) >> 工程技術(shù)科學(xué)

解析:

電子顯微鏡是根據(jù)電子光學(xué)原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡，使物質(zhì)的細(xì)微結(jié)構(gòu)在非常高的放大倍數(shù)下成像的儀器。

電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點(diǎn)的最小間距來表示。20世紀(jì)70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領(lǐng)約為0.1毫米)?，F(xiàn)在電子顯微鏡最大放大倍率超過300萬倍，而光學(xué)顯微鏡的最大放大倍率約為2000倍，所以通過電子顯微鏡就能直接觀察到某些重金屬的原子和晶體中排列整齊的原子點(diǎn)陣。

1931年，德國的克諾爾和魯斯卡，用冷陰極放電電子源和三個電子透鏡改裝了一臺高壓示波器，并獲得了放大十幾倍的圖象，證實(shí)了電子顯微鏡放大成像的可能性。1932年，經(jīng)過魯斯卡的改進(jìn)，電子顯微鏡的分辨能力達(dá)到了50納米，約為當(dāng)時光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)的十倍，于是電子顯微鏡開始受到人們的重視。

到了二十世紀(jì)40年代，美國的希爾用消像散器補(bǔ)償電子透鏡的旋轉(zhuǎn)不對稱性，使電子顯微鏡的分辨本領(lǐng)有了新的突破，逐步達(dá)到了現(xiàn)代水平。在中國，1958年研制成功透射式電子顯微鏡，其分辨本領(lǐng)為3納米，1979年又制成分辨本領(lǐng)為0.3納米的大型電子顯微鏡。

電子顯微鏡的分辨本領(lǐng)雖已遠(yuǎn)勝于光學(xué)顯微鏡，但電子顯微鏡因需在真空條件下工作，所以很難觀察活的生物，而且電子束的照射也會使生物樣品受到輻照損傷。其他的問題，如電子槍亮度和電子透鏡質(zhì)量的提高等問題也有待繼續(xù)研究。

分辨能力是電子顯微鏡的重要指標(biāo)，它與透過樣品的電子束入射錐角和波長有關(guān)。可見光的波長約為300～700納米，而電子束的波長與加速電壓有關(guān)。當(dāng)加速電壓為50～100千伏時，電子束波長約為0.0053～0.0037納米。由于電子束的波長遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于可見光的波長，所以即使電子束的錐角僅為光學(xué)顯微鏡的1％，電子顯微鏡的分辨本領(lǐng)仍遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于光學(xué)顯微鏡。

電子顯微鏡由鏡筒、真空系統(tǒng)和電源柜三部分組成。鏡筒主要有電子槍、電子透鏡、樣品架、熒光屏和照相機(jī)構(gòu)等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體；真空系統(tǒng)由機(jī)械真空泵、擴(kuò)散泵和真空閥門等構(gòu)成，并通過抽氣管道與鏡筒相聯(lián)接；電源柜由高壓發(fā)生器、勵磁電流穩(wěn)流器和各種調(diào)節(jié)控制單元組成。

電子透鏡是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件，它用一個對稱于鏡筒軸線的空間電場或磁場使電子軌跡向軸線彎曲形成聚焦，其作用與玻璃凸透鏡使光束聚焦的作用相似，所以稱為電子透鏡?，F(xiàn)代電子顯微鏡大多采用電磁透鏡，由很穩(wěn)定的直流勵磁電流通過帶極靴的線圈產(chǎn)生的強(qiáng)磁場使電子聚焦。

電子槍是由鎢絲熱陰極、柵極和陰極構(gòu)成的部件。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。

電子顯微鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與 X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分分析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。

投射式電子顯微鏡因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿。在這種電子顯微鏡中，圖像細(xì)節(jié)的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。樣品較薄或密度較低的部分，電子束散射較少，這樣就有較多的電子通過物鏡光欄，參與成像，在圖像中顯得較亮。反之，樣品中較厚或較密的部分，在圖像中則顯得較暗。如果樣品太厚或過密，則像的對比度就會惡化，甚至?xí)蛭针娮邮哪芰慷粨p傷或破壞。

透射式電子顯微鏡鏡筒的頂部是電子槍，電子由鎢絲熱陰極發(fā)射出、通過第一，第二兩個聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過樣品后由物鏡成像于中間鏡上，再通過中間鏡和投影鏡逐級放大，成像于熒光屏或照相干版上。

中間鏡主要通過對勵磁電流的調(diào)節(jié)，放大倍數(shù)可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬倍；改變中間鏡的焦距，即可在同一樣品的微小部位上得到電子顯微像和電子衍射圖像。為了能研究較厚的金屬切片樣品，法國杜洛斯電子光學(xué)實(shí)驗(yàn)室研制出加速電壓為3500千伏的超高壓電子顯微鏡。掃描式電子顯微鏡結(jié)構(gòu)示意圖

掃描式電子顯微鏡的電子束 *** 過樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)出次級電子。放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子，通過放大后調(diào)制顯像管的電子束強(qiáng)度，從而改變顯像管熒光屏上的亮度。顯像管的偏轉(zhuǎn)線圈與樣品表面上的電子束保持同步掃描，這樣顯像管的熒光屏就顯示出樣品表面的形貌圖像，這與工業(yè)電視機(jī)的工作原理相類似。

掃描式電子顯微鏡的分辨率主要決定于樣品表面上電子束的直徑。放大倍數(shù)是顯像管上掃描幅度與樣品上掃描幅度之比，可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬倍。掃描式電子顯微鏡不需要很薄的樣品；圖像有很強(qiáng)的立體感；能利用電子束與物質(zhì)相互作用而產(chǎn)生的次級電子、吸收電子和 X射線等信息分析物質(zhì)成分。

掃描式電子顯微鏡的電子槍和聚光鏡與透射式電子顯微鏡的大致相同，但是為了使電子束更細(xì)，在聚光鏡下又增加了物鏡和消像散器，在物鏡內(nèi)部還裝有兩組互相垂直的掃描線圈。物鏡下面的樣品室內(nèi)裝有可以移動、轉(zhuǎn)動和傾斜的樣品臺。

二、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層，產(chǎn)生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項(xiàng)技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù)，對于分析槍擊痕跡非常有用。

三、電子顯微鏡的工作原理是什么？

電子顯微鏡是以電子束為照明光源的顯微鏡。由于電子束在外部磁場或電場的作用下可以發(fā)生彎曲，形成類似于可見光通過玻璃時的折射現(xiàn)象，所以我們就可以利用這一物理效應(yīng)制造出電子束的“透鏡”，從而開發(fā)出電子顯微鏡。而作為透射電子顯微鏡(tem)其特點(diǎn)在于我們是利用透過樣品的電子束來成像，這一點(diǎn)有別于掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope，sem)。

四、電子顯微鏡的工作原理?

顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時代的標(biāo)志。主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡：光學(xué)顯微鏡是在1590年由荷蘭的楊森父子所首創(chuàng)?，F(xiàn)在的光學(xué)顯微鏡可把物體放大1600倍，分辨的最小極限達(dá)0.1微米，國內(nèi)顯微鏡機(jī)械筒長度一般是160mm。國內(nèi)主要生產(chǎn)廠家上海光學(xué)儀器廠等

光學(xué)顯微鏡的種類很多，除一般的外，主要有：

①暗視野顯微鏡，一種具有暗視野聚光鏡，從而使照明的光束不從中央部分射入，而從四周射向標(biāo)本的顯微鏡。

②熒光顯微鏡，以紫外線為光源，使被照射的物體發(fā)出熒光的顯微鏡。電子顯微鏡是在1931年在德國柏林由克諾爾和哈羅斯卡首先裝配完成的。這種顯微鏡用高速電子束代替光束。由于電子流的波長比光波短得多，所以電子顯微鏡的放大倍數(shù)可達(dá)80萬倍，分辨的最小極限達(dá)0.2納米。1963年開始使用的掃描電子顯微鏡更可使人看到物體表面的微小結(jié)構(gòu)。

■主要用途

顯微鏡被用來放大微小物體的圖像。一般應(yīng)用于生物、醫(yī)藥、微觀粒子等觀測。

（1）利用微微動載物臺之移動，配全目鏡之十字座標(biāo)線，作長度量測。

（2）利用旋轉(zhuǎn)載物臺與目鏡下端之游標(biāo)微分角度盤，配全合目鏡之址字座標(biāo)線，作角度量測，令待測角一端對準(zhǔn)十字線與之重合，然再讓另一端也重合。

（3）利用標(biāo)準(zhǔn)檢測螺紋的節(jié)距、節(jié)徑、外徑、牙角及牙形等尺寸或外形。

（4）檢驗(yàn)金相表面的晶粒狀況。

（5）檢驗(yàn)工件加工表面的情況。

（6）檢測微小工件的尺寸或輪廓是否與標(biāo)準(zhǔn)片相符

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