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SEM設(shè)備（Sem設(shè)備會(huì)有輻射嗎）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-13 16:32:07 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 148

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于SEM設(shè)備的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

1、sem需要做哪些？
2、有沒(méi)有好的分析檢測(cè)公司推薦？要測(cè)試TEM、SEM
3、銀行類(lèi)應(yīng)用系統(tǒng)名詞解釋?zhuān)琓OPS，IFE，SEM，B-EAI，ATM-C，ATM-P，的具體意思。急急急?。。?/a>

4、sem如何調(diào)清晰

SEM設(shè)備（Sem設(shè)備會(huì)有輻射嗎）

一、sem需要做哪些？

sem首先要具備賬戶(hù)搭建的能力、添加關(guān)鍵詞、寫(xiě)創(chuàng)意、對(duì)賬戶(hù)進(jìn)行分類(lèi)等。

其次需要具備數(shù)據(jù)分析能力，當(dāng)看到賬戶(hù)的消費(fèi)、轉(zhuǎn)化報(bào)告后，知道哪些關(guān)鍵詞應(yīng)該怎么樣去進(jìn)行優(yōu)化，到底是要是拓流、還是要否詞、修改匹配模式等等

知道從各個(gè)維度去進(jìn)行賬戶(hù)的優(yōu)化，計(jì)劃、單元、關(guān)鍵詞、創(chuàng)意層級(jí)，以及時(shí)段、地域等方面

二、有沒(méi)有好的分析檢測(cè)公司推薦？要測(cè)試TEM、SEM

分析檢測(cè)TEM測(cè)試：

1.ZSM-5的TEM如何制樣?

答：在瑪瑙研缽中加上酒精研磨，在超聲波中分散，滴到微柵上就可以了。輻照的敏感程度與SiAl比有關(guān)，SiAl比越大越穩(wěn)定。

2.對(duì)于衍射強(qiáng)度比較弱,壽命比較短的高分子樣品，曝光時(shí)間是長(zhǎng)一些還是短一些?

答：因?yàn)檠苌浔容^弱，雖然長(zhǎng)時(shí)間曝光是增加襯度的一種方法，但是透射斑的加強(qiáng)幅度更大，反而容易遮掩了本來(lái)就弱得多得點(diǎn)，而且樣品容易損壞，還是短時(shí)間比較合適。我曾經(jīng)拍介孔分子篩的衍射，比較弱，放6-8s，效果比長(zhǎng)時(shí)間的好。

3.請(qǐng)教EDXS的縱坐標(biāo)怎么書(shū)寫(xiě)?

答：做了EDXS譜，發(fā)現(xiàn)各種刊物上的圖譜中，縱坐標(biāo)不一致?？赡苁且?yàn)榻^對(duì)強(qiáng)度值并不太重要，所以x射線(xiàn)能譜圖縱坐標(biāo)的標(biāo)注并沒(méi)有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。除了有I/CPS、CPS、Counts等書(shū)寫(xiě)方法外，還有不標(biāo)的，還有標(biāo)成Intensity或Relative Intensity的，等等。具體標(biāo)成什么形式，要看你所投雜志的要求。一般標(biāo)成CPS的比較多，它表示counts per second，即能譜儀計(jì)數(shù)器的每秒計(jì)數(shù)。

4.EDAX和ED 相同嗎?

答：EDAX有兩個(gè)意思，一指X射線(xiàn)能量色散分析法，也稱(chēng)EDS法或EDX法，少用ED表示;二是指最早生產(chǎn)波譜儀的公司---美國(guó)EDAX公司。當(dāng)然生產(chǎn)能譜儀的不只EDAX公司，還有英國(guó)的Oxford等。

ED指的是掃描電子顯微鏡(SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)上用的一種附屬分析設(shè)備---能譜儀，或指的是最早生產(chǎn)能譜儀的公司---美國(guó)伊達(dá)克斯有限公司，或這種分析技術(shù)。當(dāng)我們?cè)陔婄R上觀(guān)察電子顯微圖像的同時(shí)，可以用這種附屬設(shè)備分析顯微圖像上的一個(gè)點(diǎn)，或一個(gè)線(xiàn)或一個(gè)面上各個(gè)點(diǎn)所發(fā)射的X射線(xiàn)的能量和強(qiáng)度，以確定顯微圖像上我們感興趣的哪些點(diǎn)的元素信息(種類(lèi)和含量)。

三、銀行類(lèi)應(yīng)用系統(tǒng)名詞解釋?zhuān)琓OPS，IFE，SEM，B-EAI，ATM-C，ATM-P，的具體意思。急急急?。?！

TOPS數(shù)據(jù)探針由控制服務(wù)器集中管理的數(shù)據(jù)采集設(shè)備，負(fù)責(zé)進(jìn)行各種操作痕跡的抓取，包括交易報(bào)文、屏幕畫(huà)面等動(dòng)態(tài)和靜態(tài)痕跡信息，并傳送給控制服務(wù)器，作為監(jiān)控分析的基礎(chǔ)依據(jù)。

TOPS控制服務(wù)器負(fù)責(zé)接收和保存所抓取的各種操作痕跡信息，并根據(jù)設(shè)定好的監(jiān)控要點(diǎn)和監(jiān)控規(guī)則對(duì)這些痕跡信息進(jìn)行動(dòng)態(tài)分析，滿(mǎn)足監(jiān)控條件的情況下進(jìn)行報(bào)警。

TOPS用戶(hù)控制臺(tái)包括本地用戶(hù)控制臺(tái)與WEB控制臺(tái)。

內(nèi)部因素評(píng)價(jià)矩陣（Internal Factor Evaluation Matrix，IFE矩陣），是一種對(duì)內(nèi)部因素進(jìn)行分析的工具，其做法是從優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)兩個(gè)方面找出影響企業(yè)未來(lái)發(fā)展的關(guān)鍵因素，根據(jù)各個(gè)因素影響程度的大小確定權(quán)數(shù)，再按企業(yè)對(duì)各關(guān)鍵因素的有效反應(yīng)程度對(duì)各關(guān)鍵因素進(jìn)行評(píng)分，最后算出企業(yè)的總加權(quán)分?jǐn)?shù)。通過(guò)IFE，企業(yè)就可以把自己所面臨的優(yōu)勢(shì)與劣勢(shì)匯總，來(lái)刻劃出企業(yè)的全部引力。

SEM:結(jié)構(gòu)方程模型（Structural·Equation·Modeling,SEM) 結(jié)構(gòu)方程模型是社會(huì)科學(xué)研究中的一個(gè)非常好的方法。該方法在20世紀(jì)80年代就已經(jīng)成熟，可惜國(guó)內(nèi)了解的人并不多?！霸谏鐣?huì)科學(xué)以及經(jīng)濟(jì)、市場(chǎng)、管理等研究領(lǐng)域，有時(shí)需處理多個(gè)原因、多個(gè)結(jié)果的關(guān)系，或者會(huì)碰到不可直接觀(guān)測(cè)的變量（即潛變量），這些都是傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)方法不能很好解決的問(wèn)題。20世紀(jì)80年代以來(lái)，結(jié)構(gòu)方程模型迅速發(fā)展，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)統(tǒng)計(jì)方法的不足，成為多元數(shù)據(jù)分析的重要工具。

B-EAI:EAI(Enterprise Application Integration)，是企業(yè)應(yīng)用集成 EAI是將基于各種不同平臺(tái)、用不同方案建立的異構(gòu)應(yīng)用集成的一種方法和技術(shù)。EAI通過(guò)建立底層結(jié)構(gòu)，來(lái)聯(lián)系橫貫整個(gè)企業(yè)的異構(gòu)系統(tǒng)、應(yīng)用、數(shù)據(jù)源等，完成在企業(yè)內(nèi)部的 ERP、CRM、SCM、數(shù)據(jù)庫(kù)、數(shù)據(jù)倉(cāng)庫(kù)，以及其他重要的內(nèi)部系統(tǒng)之間無(wú)縫地共享和交換數(shù)據(jù)的需要。有了 EAI，企業(yè)就可以將企業(yè)核心應(yīng)用和新的Internet解決方案結(jié)合在一起。（B2B、B2C-EAI）

ATM-C:自動(dòng)取款機(jī)模擬程序，atm機(jī)c語(yǔ)言程序。

ATM-P ：ATM PIM自動(dòng)取款機(jī)個(gè)人信息管理。

四、sem如何調(diào)清晰

關(guān)鍵是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是調(diào)節(jié)對(duì)比度亮度得到一幅清晰的圖像。如果比較了解電鏡的話(huà)，還要調(diào)節(jié)像散，對(duì)中等等之類(lèi)的。

SEM想清楚這個(gè)要自己多試條件，不同的電壓、掃描速度、工作距離都是會(huì)影響圖片清晰度的，當(dāng)然條件確認(rèn)的情況下，就是要看你的技術(shù)咯，電子束對(duì)中，像散調(diào)節(jié)，wobble，最后就是focus清晰啦。

SEM設(shè)備（Sem設(shè)備會(huì)有輻射嗎）

制樣，成功制備出所要觀(guān)察的位置，樣品如果不導(dǎo)電，可能需要鍍金境電，環(huán)鏡處在無(wú)振動(dòng)干擾和無(wú)磁場(chǎng)干擾的環(huán)境下，設(shè)備，電鏡電子槍仍在合理的使用時(shí)間內(nèi)，拍攝，找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭，對(duì)中，調(diào)像散，聚焦，反復(fù)操作至最清晰。

掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具，因具有超高的放大能力，從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門(mén)廣泛用于。

以上就是關(guān)于SEM設(shè)備相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問(wèn)題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢(xún)，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。