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掃描電鏡分析方法
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本文目錄:
一、掃描電鏡是進(jìn)行斷口分析的有效手段,缺陷組織的成分如何分析?
在掃描電鏡上使用能譜和獲取元素分布和比例,由此可推測(cè)缺陷部位的成分。
二、如何利用掃描電鏡對(duì)粉體材料進(jìn)行能譜分析?
直接往顆粒表面,你感興趣的地方打!
如果你想測(cè)試平均成分,你選錯(cuò)設(shè)備了!
三、如何利用SEM掃描電鏡法分析玻纖增強(qiáng)尼龍這種復(fù)合材料的玻璃纖維增強(qiáng)效果?
掃描電鏡主要是測(cè)試表征形貌的,只能看到形貌變化
四、這張掃描電鏡圖怎么分析
原式=(lg5/lg3)(lg8/lg5)(lg3^-4/lg2)=(lg5/lg3)(3lg2/lg5)(-4lg3/lg2)約分=1x3x(-4)=-12
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