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xrd表征手段的譜圖是什么樣的（xrd表征怎么看）

發(fā)布時間：2023-04-22 04:25:55 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 96

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本文目錄:

1、關于XRD譜圖分析，在線等?。。。。。?！
2、請教：做SAPO分子篩，XRD譜圖，都看圖中的什么？分別能得到什么？
3、求助：XRD得到的各礦物成分的譜圖怎么分析
4、XRD表示什么意思，由XRD圖譜怎么分析物質結構？

xrd表征手段的譜圖是什么樣的（xrd表征怎么看）

一、關于XRD譜圖分析，在線等?。。。。。?！

金紅石型TiO2屬于四方晶系,通過對照JCPDS粉末衍射卡，可以看到衍射峰與標準金紅石型TiO2一致，表明制備出目標產(chǎn)物，而且峰型尖銳，衍射強度高，說明產(chǎn)物晶型良好。其中110晶面（27.4度），101晶面（36.1度），111晶面（41.2度），211晶面（54.3度），220晶面（56.6度），002晶面（62.8度），112晶面（69.8度）是金紅石型TiO2特征衍射峰。除此之外并未發(fā)現(xiàn)其他物質的衍射峰，說明所制備的產(chǎn)物純正，無雜質。

以上就是單張XRD譜圖能得出的結論了，如果多張進行比較，還可以根據(jù)峰強度的大小判斷晶型的好壞，半峰寬的的大小判斷平均晶粒尺寸的大小。

二、請教：做SAPO分子篩，XRD譜圖，都看圖中的什么？分別能得到什么？

從d值可以與標準物相的pdf卡片比對進行定性分析，即看出都有什么物相，從峰的高度可以看出含量的多少，峰越高一般來說含量越多，峰的寬度表征的是晶粒大小，越寬晶粒越小，可以將半峰寬以弧度為單位代入謝樂公式計算晶粒大小，但是這個公式只適用于100納米以下的小晶粒物相，大的就不準了；結晶度可以計算，用Highscore或者jade5。0類似的軟件幾乎可以完成上述全部功能。

三、求助：XRD得到的各礦物成分的譜圖怎么分析

一、分析方法：1、數(shù)據(jù)的輸入Jade軟件可以直接讀取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射儀的原始數(shù)據(jù)。打開File\patterns,將出現(xiàn)如附件中所示畫面，先（I）找到你文件位置，從（III）的下拉框中選擇你的數(shù)據(jù)格式，按（II）選擇。很多儀器輸出文件的格式都是*.raw,實際上都是不一樣的，但格式選錯了也沒關系，軟件會給你自動轉到合適的格式中去的。高級一點的：有一些數(shù)據(jù)格式在（III）的下拉框中沒有，比如最常見的txt，xy等，此時你可以自己動手設置，在以上的數(shù)據(jù)輸入面板中，點擊工具欄上的“import",進入格式設置畫面，如附件所示，a區(qū)為注釋區(qū)，b區(qū)為數(shù)據(jù)格式區(qū)，對于最簡單的一列角度，一列強度的數(shù)據(jù)格式，a區(qū)不用填寫，b區(qū)在”anglecolumn“前打上勾，數(shù)據(jù)從第1行開始讀，每行1列數(shù)據(jù)，強度數(shù)據(jù)從第8行開始（角度不算），角度從1至6列，所得數(shù)據(jù)格式即為附件中所示的數(shù)據(jù)格式。你也可以按照自己的數(shù)據(jù)格式進行自由改動，如果a區(qū)中表明第1行有說明文字，則數(shù)據(jù)從第2行讀入，相應在b區(qū)就將datastarts改成2。做完上面的工作后，將文件后綴改為你的數(shù)據(jù)后綴（箭頭所指），再將該格式保存下來便可大功告成了。2基本功能使用：平滑，扣背底一張XRD圖譜出來，往往因為有空氣散射，漫散射，熒光以及樣品結晶差等等原因而造成圖譜上存在許多“毛刺”和較高的背底，雖然提高X光強度能成倍提高信噪比，然而有時受儀器和樣品所限，這兩項功能需要用到。但根據(jù)我個人的經(jīng)驗，要盡量少使用平滑和扣背底，因為這兩項操作帶來的可能后果就是將一些微弱的有用信息一概抹掉了，特別注意的是，如果將數(shù)據(jù)用來做Rietveld精修，更不要進行這兩項操作。當然，如果是將圖譜打印出來給別人看，適當進行平滑和扣背底也是個不錯的選擇。3尋峰和峰型擬合在尋峰之前最好用標樣校正過2theta值，這些都是儀器操作人員的事情，我就不說了。打開analyze/findpeaks，或右鍵單擊快捷工具欄中的圖標。出現(xiàn)一個懸浮框，在“search”里面可以對尋峰的判據(jù)進行設置，大家可以改動不同的限制條件，然后按“apply”看看有什么變化。在“Label”里面主要是可以選定標注的內容，如d值，2theta值，半峰寬，強度等，這些大家多試幾次就OK了。如果要將尋峰結果列出，按下“report”即可。也可以自己手動直接在圖譜上標峰，大家可以看到有一個懸浮式快捷編輯框“edittoolbar”，左鍵點擊第3個圖標。然后就可以直接在峰頂標注，如果同時按住“Ctrl”鍵，則可以在圖譜的任何位置上進行標注。如果要去掉某個峰的標注，則用鼠標將豎線拖到與峰的標注線重疊，出現(xiàn)紅顏色之后點擊右鍵即可。如果要刪除所有的峰的標注，在窗口中點擊右鍵，選定”Eraseall”即可。4峰型擬合如果要得到精確的峰型，峰位信息，一般都要經(jīng)過峰型擬合，JADE提供了單峰擬合的功能。在峰型擬合前不要進行平滑和扣背底，也不主張預先自動尋峰。就像前面一位朋友說的，對于重疊峰的分離比較有難度，也可能會導致軟件“罷工”（我也遇到過這種情況），但對于多數(shù)人來說，峰型擬合就等同于分峰，因此面對重疊峰是不可避免的，我的建議是高角度的峰舍棄，并且分峰要一小段接一小段地進行（背底嚴重的除外）。二、XRD測的簡單介紹：XRD即X-raydiffraction的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。

四、XRD表示什么意思，由XRD圖譜怎么分析物質結構？

首先簡單說下原理——

角度θ為布拉格角或稱為掠射角。關于XRD的測量原理比較復雜，要知道晶體學和X射線知識。簡單的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時，若其中一個晶粒的一組面網(wǎng)（hkl）取向和入射線夾角為θ，滿足衍射條件，則在衍射角2θ（衍射線與入射X射線的延長線的夾角）處產(chǎn)生衍射。

但在實際應用中，我們只需用儀器做出XRD圖譜，然后根據(jù)pdf卡片來知道所測物質的種類，和結構。pdf卡片是X射線衍射化學分析聯(lián)合會建立的物質的衍射數(shù)據(jù)庫。他們制備了大量的物質，使用者只要把自己的圖譜和標準圖譜對比就能知道自己的物質種類及結構。隨著計算機技術的發(fā)展，現(xiàn)在都是通過導入研究者測試得到的XRD圖譜，電腦軟件（如Jade）通過匹配度尋找與之比配的pdf卡片，很方便。

在XRD中，不僅可以定性得到物質的種類，相結構。而且可以通過謝樂公式得到晶粒尺寸以及通過精修手段得到晶胞常數(shù)。

實際操作過程中，一般都能得到一個XRD的測試圖譜，在你盡可能提供多的信息情況下，比如物相的制備方法，所包含的元素等，與標準卡片對比，找到跟你XRD圖譜一樣的標準圖譜，再分析，當然得到的結果中可能有多種物相，那樣你就得根據(jù)你圖譜上的峰的位置一條一條地去找卡片庫，匹配，然后就OK了

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