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sem掃描電鏡圖片怎么分析
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本文目錄:
一、求教二氧化鈦SEM圖分析。。
掃描電鏡作為材料分析上一種常用的儀器,它的主要目的還是觀察你做出的材料形貌。因?yàn)槟阏f(shuō)是納米材料,其實(shí)納米材料不一定只有幾個(gè)納米,我印象里幾十甚至幾百個(gè)納米的都可以叫做納米材料。你這個(gè)圖里的微米單位,應(yīng)該是給你一個(gè)量度,好像就跟地圖上的比例尺差不多。
你這個(gè)圖主要還是根據(jù)SEM的圖來(lái)表征下你所做出的納米材料的特性,比如材料呈球形,尺寸在多少個(gè)納米之間,材料顆粒之間有沒(méi)有團(tuán)聚現(xiàn)象之類(lèi)的。
二、sem如何調(diào)清晰
關(guān)鍵是聚焦,高倍聚焦,低倍成像。再就是調(diào)節(jié)對(duì)比度亮度得到一幅清晰的圖像。 如果比較了解電鏡的話(huà),還要調(diào)節(jié)像散,對(duì)中等等之類(lèi)的。
SEM想清楚這個(gè)要自己多試條件,不同的電壓、掃描速度、工作距離都是會(huì)影響圖片清晰度的,當(dāng)然條件確認(rèn)的情況下,就是要看你的技術(shù)咯,電子束對(duì)中,像散調(diào)節(jié),wobble,最后就是focus清晰啦。
制樣,成功制備出所要觀察的位置,樣品如果不導(dǎo)電,可能需要鍍金境電,環(huán)鏡處在無(wú)振動(dòng)干擾和無(wú)磁場(chǎng)干擾的環(huán)境下,設(shè)備,電鏡電子槍仍在合理的使用時(shí)間內(nèi),拍攝,找到拍攝位置,選擇合適距離,選擇合適探頭,對(duì)中,調(diào)像散,聚焦,反復(fù)操作至最清晰。
掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具,因具有超高的放大能力,從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門(mén)廣泛用于。
三、PC阻燃的SEM圖要怎么分析啊?
首先你的斷口制備的很差,內(nèi)部相的分布無(wú)法正確表征。
我了解的一點(diǎn)情況是,觀察阻燃劑等顆粒在PC中的分布狀態(tài)。應(yīng)該液氮脆斷。
四、如何利用SEM掃描電鏡法分析玻纖增強(qiáng)尼龍這種復(fù)合材料的玻璃纖維增強(qiáng)效果?
掃描電鏡主要是測(cè)試表征形貌的,只能看到形貌變化
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