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SEM和TEM的原理和區(qū)別（sem與tem的主要區(qū)別）

發(fā)布時間：2023-04-18 20:10:07 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 82

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本文目錄:

1、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區(qū)別
2、電磁透鏡在tem和sem中的區(qū)別
3、SEM STM TEM 有什么區(qū)別？？？？
4、TEM和SEM有什么區(qū)別？求解

SEM和TEM的原理和區(qū)別（sem與tem的主要區(qū)別）

一、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區(qū)別

sem的樣品可以是大的塊狀，較小的話就鑲樣，也可以做粉末樣。而tem的樣呢一般是直徑3mm的圓片，而且中間有通過離子減薄或者電解雙噴等弄出的小孔，也就是說有薄區(qū)，如果是粉末樣的話需要銅網(wǎng)或者支持膜支撐

二、電磁透鏡在tem和sem中的區(qū)別

SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結構。

掃描電鏡是相當與對物體的照相得到的是表面的只是表面的立體三維的圖象因為掃描的原理是“感知”那些物提被電子束攻擊后發(fā)出的此級電子

而透射電竟就相當于普通顯微鏡只是用波長更短的電子束替代了會發(fā)生衍射的可見光從而實現(xiàn)了顯微是二維的圖象會看到表面的圖象的同時也看到內(nèi)層物質(zhì) 就想我們拍的X光片似的內(nèi)臟骨骼什么的都重疊著顯現(xiàn)出來總結就是透射雖然能看見內(nèi)部但是不立體掃描立體但是不能看見內(nèi)部只局限與表面。

三、SEM STM TEM 有什么區(qū)別？？？？

SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當于高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品，觀察內(nèi)部結構STEM是掃描透射，是掃描電鏡里面的一個功能，可以說是山寨版的TEMSTM是掃描隧道顯微鏡，具體功能不太清楚了。

四、TEM和SEM有什么區(qū)別？求解

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SEM是電子束激發(fā)出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.

掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數(shù)相對較低,操作方便,樣品制作簡單,對于高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內(nèi)部結構,粒子的分散等.其放大倍數(shù)高于SEM,但也不是絕對,現(xiàn)在有些掃描電鏡的放大倍數(shù)也可以很高.其操作較復雜,樣品制作也較為煩瑣

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