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x射線衍射儀多少錢一臺(tái)（x射線衍射儀多少錢一臺(tái)機(jī)器）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 18:52:25 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 102

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本文目錄:

1、x射線衍射、x熒光、直讀光譜3種儀器，都有哪些區(qū)別，原理是什么？檢測領(lǐng)域？
2、X射線衍射儀的維護(hù)和保養(yǎng)
3、X射線衍射詳細(xì)資料大全
4、X射線衍射儀的介紹

x射線衍射儀多少錢一臺(tái)（x射線衍射儀多少錢一臺(tái)機(jī)器）

一、x射線衍射、x熒光、直讀光譜3種儀器，都有哪些區(qū)別，原理是什么？檢測領(lǐng)域？

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，廣泛應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。基本構(gòu)造　X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, 圖4為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測器　檢測衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。 X射線熒光

X ray fluorescence 物質(zhì)受原級(jí)X射線或其他光子源照射，受激產(chǎn)生次級(jí)X射線的現(xiàn)象。它只包含特征X射線，沒有連續(xù)X射線。分別以原級(jí)、一級(jí)、二級(jí)X射線激發(fā)，可產(chǎn)生一級(jí)、二級(jí)、三級(jí)X射線熒光。直讀光譜儀直讀光譜儀，適合于戶外名種應(yīng)用，不管是用于壓力容器內(nèi)部分析、管道原位分析還是工場分析都沒有任何問題。因?yàn)樗敲芊庠谝粋€(gè)溫度穩(wěn)定的恒溫機(jī)箱里，設(shè)備的般運(yùn)和操作只要一個(gè)人就能完成。該光譜儀設(shè)計(jì)達(dá)到最高的分析精度，新的雙光譜室能應(yīng)用最理想的譜線，36個(gè)測量信道使這臺(tái)儀器能分析Fe、Ni、Cu、A1、Ti等多種基體。該光譜儀裝備了超高靈敏度的光電倍增管，在全量程范圍內(nèi)使檢測器的動(dòng)態(tài)范圍能鑒別出成分的最微小的差別。曲面的第二個(gè)窄縫能清楚地分離出相鄰的譜線，這一點(diǎn)對包括高含量的合金成分分析在內(nèi)進(jìn)行高精度分析特別。品種分類直讀光譜儀品種分為火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀，原子發(fā)射光譜儀，原子吸收光譜儀，手持式光譜儀，便攜式光譜儀，能量色散光譜儀，真空直讀光譜儀，直讀光譜儀分為臺(tái)式機(jī)和立式機(jī)。直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鑄造，鋼鐵，金屬回收和冶煉以及軍工、航天航空、電力、化工、高等院校和商檢，質(zhì)檢等單位。根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀.經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器.經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調(diào)制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進(jìn)光.根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀, 衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀. 光學(xué)多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲(chǔ)諸功能于一體.由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測盆準(zhǔn)確迅速,方便, 且靈敏度高,響應(yīng)時(shí)間快,光譜分辨率高,測量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī),繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對微弱信號(hào),瞬變信號(hào)的檢測. 光譜儀色散組件的選擇和光學(xué)參數(shù)的確定光譜分析儀色散組件的選擇在成像光譜儀設(shè)計(jì)中,選擇色散組件是關(guān)鍵問題,應(yīng)全面的權(quán)衡棱鏡和光棚色散組件的優(yōu)缺點(diǎn)[140-al) 直讀光譜分析儀是“漢化”了的光譜分析儀，操作更加簡便明了。 [編輯本段]直讀光譜儀的正規(guī)名字叫原子發(fā)射光譜儀管他叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號(hào)都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡稱就叫直讀了，在國外沒有這個(gè)概念。直讀光譜儀和ICP都屬于發(fā)射光譜分析儀器,區(qū)別在于他們的激發(fā)方式不同,ICP中文名字是電感耦合等離子體,是通過線圈磁場達(dá)到高溫使樣品的狀態(tài)呈等離子態(tài)然后進(jìn)行測量的,而普通的直讀光譜儀一般采用電火花,電弧或者輝光放電的方式把樣品打成蒸汽進(jìn)行激發(fā)的,在效果上ICP要比普通直讀光譜儀器的檢出限小,精度高,但是在進(jìn)樣系統(tǒng)上要求非常嚴(yán)格,沒有好的進(jìn)樣系統(tǒng)就只能做溶液樣品.國外先進(jìn)ICP可以做固體樣品. 希望能對你有所幫助，望采納，謝謝~！！

二、X射線衍射儀的維護(hù)和保養(yǎng)

11.3.4.1 X射線衍射儀的工作環(huán)境

1)建議溫度：15～25℃，溫度變化小于1℃/30min。

2)相對濕度：20%～80%。

3)環(huán)境整潔：定期清潔儀器內(nèi)部，以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。

4)其他環(huán)境條件：實(shí)驗(yàn)室附近不應(yīng)有劇烈振動(dòng)和產(chǎn)生強(qiáng)磁場的裝置。

11.3.4.2 為了延長X射線管的使用壽命，在使用中應(yīng)注意以下問題

1)待機(jī)功率，尤其是電流不能太高，會(huì)消耗X射線管壽命。

2)當(dāng)超過1h不用儀器時(shí)，將X射線管設(shè)定至待機(jī)狀態(tài)。待機(jī)時(shí)至少設(shè)定為40kV/10mA，對于陶瓷X射線管請?jiān)O(shè)定至45kV/20mA。

3)當(dāng)超過兩星期不用儀器時(shí)，須將X射線管高壓關(guān)掉。

4)當(dāng)超過十個(gè)星期不用儀器時(shí)，須將X射線管拆下。

5)對新的X射線管，超過100h未曾使用和曾經(jīng)從儀器上拆下的X射線管，必須進(jìn)行正常老化。對超過24h但小于100h未曾使用的X射線管須進(jìn)行自動(dòng)快速老化。

6)在升高壓時(shí)先升電壓后升電流。

7)在降高壓時(shí)先降電流后降電壓。

8)在關(guān)閉高壓后1～2min后再完全關(guān)閉水冷系統(tǒng)。

9)千萬不要通過關(guān)閉冷卻水去關(guān)閉X射線管高壓。

11.3.4.3 X射線管水冷系統(tǒng)的維護(hù)

1)最佳的冷卻水溫度是20～25℃。

2)干凈和不間斷的冷卻水流量與冷卻水本身是同樣重要的。

3)光管水路需要定期檢查和清潔。

4)千萬不要使用純的去離子水，因?yàn)榫哂兴嵝院鸵浊治g性。

11.3.4.4 有關(guān)安全的注意事項(xiàng)

1)X射線管和探測器的窗口都是鈹制造的，鈹窗口易碎且有毒。在任何情況下，請不要觸摸鈹窗口，包括清潔時(shí)。同時(shí)，更不要像普通垃圾一樣丟棄X射線管和探測器。

2)如果快門無法打開，通常情況是某個(gè)安全回路工作不正常所致，千萬不要試圖跳過安全回路。

3)如果防護(hù)罩上的鉛玻璃損壞，請立即停用儀器。

4)請?jiān)陉P(guān)門時(shí)，盡量避免過度用力，以免影響安全系統(tǒng)。

三、X射線衍射詳細(xì)資料大全

1912年，勞厄等人根據(jù)理論預(yù)見，證實(shí)了晶體材料中相距幾十到幾百皮米（pm）的原子是周期性排列的；這個(gè)周期排列的原子結(jié)構(gòu)可以成為X射線衍射的“衍射光柵”；X射線具有波動(dòng)特性，是波長為幾十到幾百皮米的電磁波，并具有衍射的能力。這一實(shí)驗(yàn)成為X射線衍射學(xué)的第一個(gè)里程碑。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律。這就是X射線衍射的基本原理。

基本介紹

中文名：X射線衍射
外文名：diffraction of x-rays
發(fā)現(xiàn)者：勞厄
發(fā)現(xiàn)時(shí)間：1912年
射線名稱：特征X射線
套用領(lǐng)域：物相分析、應(yīng)力測定

簡介,原理,布拉格方程,運(yùn)動(dòng)學(xué)衍射理論,動(dòng)力學(xué)衍射理論,套用,物相分析,結(jié)晶度的測定,精密測定點(diǎn)陣參數(shù),X射線衍射儀,最新進(jìn)展,

簡介

物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線衍射是最有效的、套用最廣泛的手段，而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的第一種方法。X射線衍射的套用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中，成為一種重要的實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點(diǎn)。 X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使螢光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用高能電子束轟擊金屬“靶”材產(chǎn)生X射線，它具有與靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征（或標(biāo)識(shí)）X射線?？紤]到X射線的波長和晶體內(nèi)部原子面間的距離相近，1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.von Laue)提出一個(gè)重要的科學(xué)預(yù)見：晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當(dāng)一束 X射線通過晶體時(shí)將發(fā)生衍射，衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析在照相底片上得到的衍射花樣，便可確定晶體結(jié)構(gòu)。這一預(yù)見隨即為實(shí)驗(yàn)所驗(yàn)證。

原理

當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。

布拉格方程

1913年英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)，不僅成功地測定了NaCl、KCl等的晶體結(jié)構(gòu),并提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的著名公式──布拉格方程：2dsinθ=nλ 式中d為晶面間距；n為反射級(jí)數(shù)；θ為掠射角；λ為X射線的波長。布拉格方程是X射線衍射分析的根本依據(jù)。

運(yùn)動(dòng)學(xué)衍射理論

Darwin的理論稱為X射線衍射運(yùn)動(dòng)學(xué)理論。該理論把衍射現(xiàn)象作為三維Frannhofer衍射問題來處理，認(rèn)為晶體的每個(gè)體積元的散射與其它體積元的散射無關(guān)，而且散射線通過晶體時(shí)不會(huì)再被散射。雖然這樣處理可以得出足夠精確的衍射方向，也能得出衍射強(qiáng)度，但運(yùn)動(dòng)學(xué)理論的根本性假設(shè)并不完全合理。因?yàn)樯⑸渚€在晶體內(nèi)一定會(huì)被再次散射，除了與原射線相結(jié)合外，散射線之間也能相互結(jié)合。Darwin不久以后就認(rèn)識(shí)到這點(diǎn)，并在他的理論中作出了多重散射修正。

動(dòng)力學(xué)衍射理論

Ewald的理論稱為動(dòng)力學(xué)理論。該理論考慮到了晶體內(nèi)所有波的相互作用，認(rèn)為入射線與衍射線在晶體內(nèi)相干地結(jié)合，而且能來回地交換能量。兩種理論對細(xì)小的晶體粉末得到的強(qiáng)度公式相同，而對大塊完整的晶體，則必須采用動(dòng)力學(xué)理論才能得出正確的結(jié)果。

套用

X 射線衍射技術(shù)已經(jīng)成為最基本、最重要的一種結(jié)構(gòu)測試手段，其主要套用主要有以下幾個(gè)方面：

物相分析

物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點(diǎn)陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度，確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關(guān)系和檢查材料的成分配比及隨后的處理規(guī)程是否合理等方面都得到廣泛套用。

結(jié)晶度的測定

結(jié)晶度定義為結(jié)晶部分重量與總的試樣重量之比的百分?jǐn)?shù)。非晶態(tài)合金套用非常廣泛，如軟磁材料等，而結(jié)晶度直接影響材料的性能，因此結(jié)晶度的測定就顯得尤為重要了。測定結(jié)晶度的方法很多，但不論哪種方法都是根據(jù)結(jié)晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積決定。

精密測定點(diǎn)陣參數(shù)

精密測定點(diǎn)陣參數(shù) 常用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的測定。溶解度的變化往往引起點(diǎn)陣常數(shù)的變化；當(dāng)達(dá)到溶解限后，溶質(zhì)的繼續(xù)增加引起新相的析出，不再引起點(diǎn)陣常數(shù)的變化。這個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)即為溶解限。另外點(diǎn)陣常數(shù)的精密測定可得到單位晶胞原子數(shù)，從而確定固溶體類型；還可以計(jì)算出密度、膨脹系數(shù)等有用的物理常數(shù)。

X射線衍射儀

基本構(gòu)成 X射線衍射儀基本構(gòu)成 （1）高穩(wěn)定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測器　檢測衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智慧型化。

最新進(jìn)展

自1912年勞厄等發(fā)現(xiàn)硫酸銅晶體的衍射現(xiàn)象的100年間，X射線衍射這一重要探測手段在人們認(rèn)識(shí)自然、探索自然方面，特別在凝聚態(tài)物理、材料科學(xué)、生命醫(yī)學(xué)、化學(xué)化工、地學(xué)、礦物學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)、歷史學(xué)等眾多領(lǐng)域發(fā)揮了積極作用，新的領(lǐng)域不斷開拓、新的方法層出不窮，特別是同步輻射光源和自由電子雷射的興起，X射線衍射研究方法仍在不斷拓展，如超快X射線衍射、軟X射線顯微術(shù)、X射線吸收結(jié)構(gòu)、共振非彈性X射線衍射、同步輻射X射線層析顯微技術(shù)等。這些新型X射線衍射探測技術(shù)必將給各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域注入新的活力。

四、X射線衍射儀的介紹

特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm。

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