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    sem圖的標(biāo)尺怎么確定(sem圖像標(biāo)尺)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-08 07:14:22     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 123        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于sem圖的標(biāo)尺怎么確定的問題,以下是小編對(duì)此問題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。

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    本文目錄:

    sem圖的標(biāo)尺怎么確定(sem圖像標(biāo)尺)

    一、掃描電鏡沒有標(biāo)尺怎么辦

    在日常的材料測(cè)試表征中,掃描電子顯微鏡(SEM)是使用頻率最高的儀器之一,對(duì)于電鏡照片來(lái)說(shuō),其中最重要的就是標(biāo)尺,通過標(biāo)尺可以對(duì)材料的尺寸進(jìn)行定量分析,因此必不可少。但是,有時(shí)由于操作失誤等原因保存的圖片中沒有原始標(biāo)尺,如果重新拍照,那就太費(fèi)時(shí)費(fèi)力了。在這里,小編教大家一招,利用DigitalMicrograph(DM)讓沒有標(biāo)尺的電鏡照片也能快速準(zhǔn)確地添加標(biāo)尺,下面一起學(xué)習(xí)吧:

    1. 首先點(diǎn)擊File—Open(圖1),選擇要處理的圖片及同名的TXT文件,點(diǎn)擊打開(圖2),如圖所示(圖3-4)

    圖1

    圖2

    圖3

    圖4

    2. 在圖4中找到PixelSize,復(fù)制后面的數(shù)字(本例中為1.240234)

    3. 在圖片上點(diǎn)擊右鍵,選擇ImageDisplay(圖5),然后點(diǎn)擊Calibration,將Dimension中Scale處的數(shù)字改為步驟2中復(fù)制的PixelSize(本例中為1.240234),并在最后的Units處輸入標(biāo)尺的單位(本例中為nm)(圖6),然后點(diǎn)擊OK

    圖5

    圖6

    4. 點(diǎn)擊Edit—Data Bar—Add Scale Marker(圖7),就會(huì)出現(xiàn)標(biāo)尺(圖8)

    圖7

    圖8

    5. 點(diǎn)擊標(biāo)尺,就可以拖動(dòng)標(biāo)尺的位置,然后四角會(huì)出現(xiàn)綠色的方塊,點(diǎn)擊拖拽方塊可以調(diào)整標(biāo)尺的大小和長(zhǎng)度(圖9),最后根據(jù)需要調(diào)整到合適的位置和大小即可(圖10)

    圖9

    二、sem測(cè)試圖上的5um和10um是什么意思

    5um和10um意思如下:

    5um和10um的線段就是個(gè)標(biāo)尺的意思,那個(gè)線段的長(zhǎng)度就是5um和10um,實(shí)物的一對(duì)照線段長(zhǎng)度就知道尺寸了。

    三、SEM掃描電鏡圖怎么看,圖上各參數(shù)都代表什么意思

    1、放大率:

    與普通光學(xué)顯微鏡不同,在SEM中,是通過控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

    所以,SEM中,透鏡與放大率無(wú)關(guān)。

    2、場(chǎng)深:

    在SEM中,位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱為場(chǎng)深,通常為幾納米厚,所以,SEM可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。

    3、作用體積:

    電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用,它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用,所以存在一個(gè)作用“體積”。

    4、工作距離:

    工作距離指從物鏡到樣品最高點(diǎn)的垂直距離。

    如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

    5、成象:

    次級(jí)電子和背散射電子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次級(jí)電子。

    6、表面分析:

    歐革電子、特征X射線、背散射電子的產(chǎn)生過程均與樣品原子性質(zhì)有關(guān),所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層(參見作用體積),所以只能用于表面分析。

    表面分析以特征X射線分析最常用,所用到的探測(cè)器有兩種:能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高,后者非常精確,可以檢測(cè)到“痕跡元素”的存在但耗時(shí)太長(zhǎng)。

    觀察方法:

    如果圖像是規(guī)則的(具螺旋對(duì)稱的活體高分子物質(zhì)或結(jié)晶),則將電鏡像放在光衍射計(jì)上可容易地觀察圖像的平行周期性。

    尤其用光過濾法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,將其他部分遮蔽使重新衍射,則會(huì)得到背景干擾少的鮮明圖像。

    sem圖的標(biāo)尺怎么確定(sem圖像標(biāo)尺)

    擴(kuò)展資料:

    SEM掃描電鏡圖的分析方法:

    從干擾嚴(yán)重的電鏡照片中找出真實(shí)圖像的方法。在電鏡照片中,有時(shí)因?yàn)楸尘案蓴_嚴(yán)重,只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

    圖像與其衍射像之間存在著數(shù)學(xué)的傅立葉變換關(guān)系,所以將電鏡像用光度計(jì)掃描,使各點(diǎn)的濃淡數(shù)值化,將之進(jìn)行傅立葉變換,便可求出衍射像〔衍射斑的強(qiáng)度(振幅的2乘)和其相位〕。

    將其相位與從電子衍射或X射線衍射強(qiáng)度所得的振幅組合起來(lái)進(jìn)行傅立葉變換,則會(huì)得到更鮮明的圖像。此法對(duì)屬于活體膜之一的紫膜等一些由二維結(jié)晶所成的材料特別適用。

    掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描,激發(fā)出各種物理信息。通過對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。

    參考資料:百度百科-掃描電子顯微鏡

    四、SEM掃描電鏡圖怎么看,圖上各參數(shù)都代表什么意思

    可以從掃描電鏡圖中看到納米管的結(jié)構(gòu),我之前做二氧化鈦納米管,用掃描電鏡可以直接看到

    。

    掃描電鏡中的的參數(shù),分別有:放大倍數(shù),長(zhǎng)度標(biāo)尺,工作電壓和工作距離。

    以上就是關(guān)于sem圖的標(biāo)尺怎么確定相關(guān)問題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢,客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。


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