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sem是什么電子顯微鏡（sem電子顯微鏡工作原理）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 05:58:43 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 58

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本文目錄:

1、SEM全稱是什么?
2、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別
3、什么SEM?
4、sem標(biāo)尺是300nm放大了多少倍

sem是什么電子顯微鏡（sem電子顯微鏡工作原理）

一、SEM全稱是什么?

SEM全稱是什么？

SEM英文全拼：Search Engine Marketing，中文意思是搜索引擎營(yíng)銷。SEM是一種新的網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷形式。SEM所做的就是全面而有效的利用搜索引擎來(lái)進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷和推廣。SEM追求最高的性價(jià)比，以最小的投入，獲最大的來(lái)自搜索引擎的訪問(wèn)量，并產(chǎn)生商業(yè)價(jià)值。所以SEM包含了從搜索引擎進(jìn)入的流量到最后達(dá)成銷售的所有的工作。

二、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、

一、名稱不同

1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

2、TEM，英文全稱：TransmissionElectronMicroscope，中文稱：透射電子顯微鏡。

3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。

4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。

5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。

6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。

二、工作原理不同

1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對(duì)樣品進(jìn)行掃描，產(chǎn)生各種各樣的物理信息。通過(guò)接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。

2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)過(guò)冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過(guò)冷凝器，它將收斂到一個(gè)薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過(guò)樣品的電子束攜帶著樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息。通過(guò)樣品致密部分的電子數(shù)量較少，而通過(guò)稀疏部分的電子數(shù)量較多。

物鏡會(huì)聚焦點(diǎn)和一次放大后，電子束進(jìn)入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進(jìn)行綜合放大成像。最后，將放大后的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉(zhuǎn)換成可視圖像供用戶觀察。

3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當(dāng)一束單色X射線入射晶體，因?yàn)樗怯稍右?guī)則排列成一個(gè)細(xì)胞，規(guī)則的原子之間的距離和入射X射線波長(zhǎng)具有相同的數(shù)量級(jí)，因此通過(guò)不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強(qiáng)度的空間分布，晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。

4．入射的電子束和材料的作用可以激發(fā)原子內(nèi)部的電子形成空穴。從填充孔到內(nèi)殼層的轉(zhuǎn)變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來(lái)，產(chǎn)生特征性的x射線，也可能激發(fā)原子核外的另一個(gè)電子成為自由電子，即俄歇電子。

5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡(jiǎn)單。一個(gè)小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過(guò)材料，到達(dá)下表面。當(dāng)探針通過(guò)單個(gè)原子時(shí)，通過(guò)探針的電流發(fā)生變化，這些變化被記錄下來(lái)。

電流在流經(jīng)一個(gè)原子時(shí)漲落，從而非常詳細(xì)地描繪出它的輪廓。經(jīng)過(guò)多次流動(dòng)后，人們可以通過(guò)繪制電流的波動(dòng)得到構(gòu)成網(wǎng)格的單個(gè)原子的美麗圖畫。

6．原子力顯微鏡的工作原理：當(dāng)原子間的距離減小到一定程度時(shí)，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉(zhuǎn)換而來(lái)，從而獲得樣品表面形貌的信息。

sem是什么電子顯微鏡（sem電子顯微鏡工作原理）

三、不同的功能

1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質(zhì)進(jìn)行微觀成像。

掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續(xù)調(diào)節(jié)20000～200000倍。它有一個(gè)大的景深，一個(gè)大的視野，一個(gè)立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細(xì)微結(jié)構(gòu)。

樣品制備很簡(jiǎn)單。目前，所有的掃描電鏡設(shè)備都配備了x射線能譜儀，可以同時(shí)觀察微觀組織和形貌，分析微區(qū)成分。因此，它是當(dāng)今非常有用的科學(xué)研究工具。

2．透射電子顯微鏡在材料科學(xué)和生物學(xué)中有著廣泛的應(yīng)用。由于電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會(huì)影響最終成像質(zhì)量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。

所以當(dāng)你用透射電子顯微鏡觀察樣品時(shí)，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對(duì)于液體樣品，通常掛在預(yù)處理過(guò)的銅線上觀察。

3X射線衍射檢測(cè)的重要手段的人們意識(shí)到自然，探索自然，尤其是在凝聚態(tài)物理、材料科學(xué)、生活、醫(yī)療、化工、地質(zhì)、礦物學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)、歷史、和許多其他領(lǐng)域發(fā)揮了積極作用，不斷拓展新領(lǐng)域、新方法層出不窮。

特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴(kuò)展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術(shù)、x射線吸收結(jié)構(gòu)、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術(shù)等。這些新的X射線衍射檢測(cè)技術(shù)必將為各個(gè)學(xué)科注入新的活力。

4，俄歇電子在固體也經(jīng)歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學(xué)調(diào)查是固體表面。

俄歇電子能譜通常采用電子束作為輻射源，可以進(jìn)行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用于表面微觀分析，并可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現(xiàn)代固體表面研究的有力工具，廣泛應(yīng)用于各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

5．當(dāng)STM工作時(shí)，探頭將足夠接近樣品，以產(chǎn)生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間分辨率，可以用于成像工作中的科學(xué)觀測(cè)。

STM在加工的過(guò)程中進(jìn)行了表面上可以實(shí)時(shí)成像進(jìn)行了表面形態(tài)，用于查找各種結(jié)構(gòu)性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達(dá)到修復(fù)的目的，也可以用STM圖像檢查結(jié)果是好還是壞。

6．原子力顯微鏡的出現(xiàn)無(wú)疑促進(jìn)了納米技術(shù)的發(fā)展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個(gè)小探針來(lái)掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態(tài)信息。

與傳統(tǒng)顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優(yōu)勢(shì)高倍鏡下在大氣條件下，并且可以用于幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）并可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒(méi)有任何其他的樣品制備。

掃描后的三維形貌圖像可進(jìn)行粗糙度計(jì)算、厚度、步長(zhǎng)、方框圖或粒度分析。

三、什么SEM?

SEM是Search Engine Marketing的縮寫，中文意思是搜索引擎營(yíng)銷。SEM是一種新的網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷形式。SEM所做的就是全面而有效的利用搜索引擎來(lái)進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷和推廣。SEM追求最高的性價(jià)比，以最小的投入，在搜索引擎中獲最大的訪問(wèn)量并產(chǎn)生商業(yè)價(jià)值。

現(xiàn)在隨著互聯(lián)網(wǎng)的深入生活，方便人們的生活，例如現(xiàn)在大家都普遍使用的B2C網(wǎng)站，還有網(wǎng)上繳費(fèi)等等，很多都運(yùn)用了SEM。

SEM可以在搜索引擎中進(jìn)行品牌的維護(hù)，將品牌的負(fù)面信息盡可能少的呈現(xiàn)在搜索用戶面前，可以預(yù)防競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手在網(wǎng)絡(luò)上惡意的誣陷。同時(shí)可以在進(jìn)行正面和商業(yè)信息的推廣，進(jìn)而達(dá)到品牌推廣的目標(biāo)。

SEM是scanning electron microscope的縮寫，中文即掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡的設(shè)計(jì)思想和工作原理，早在1935年便已被提出來(lái)了。1942年，英國(guó)首先制成一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時(shí)間太長(zhǎng)，所以實(shí)用價(jià)值不大。經(jīng)過(guò)各國(guó)科學(xué)工作者的努力，尤其是隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的不斷發(fā)展，到1956年開始生產(chǎn)商品掃描電鏡。近數(shù)十年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中，促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。

SEM還是School of Economics and Management的縮寫，也就是經(jīng)濟(jì)管理學(xué)院（簡(jiǎn)稱經(jīng)管學(xué)院）的意思。隨著市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，經(jīng)管學(xué)院正在為社會(huì)輸送越來(lái)越多的管理、會(huì)計(jì)、金融類人才，為社會(huì)的建設(shè)與發(fā)展做出突出貢獻(xiàn)。

sem是結(jié)構(gòu)方程模型是社會(huì)科學(xué)研究中的一個(gè)非常好的方法。該方法在20世紀(jì)80年代就已經(jīng)成熟，可惜國(guó)內(nèi)了解的人并不多?！霸谏鐣?huì)科學(xué)以及經(jīng)濟(jì)、市場(chǎng)、管理等研究領(lǐng)域，有時(shí)需處理多個(gè)原因、多個(gè)結(jié)果的關(guān)系，或者會(huì)碰到不可直接觀測(cè)的變量（即潛變量），這些都是傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)方法不能很好解決的問(wèn)題。20世紀(jì)80年代以來(lái)，結(jié)構(gòu)方程模型迅速發(fā)展，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)統(tǒng)計(jì)方法的不足，成為多元數(shù)據(jù)分析的重要工具。

結(jié)構(gòu)方程模型分析:結(jié)構(gòu)方程模型是一種建立、估計(jì)和檢驗(yàn)因果關(guān)系模型的方法。模型中既包含有可觀測(cè)的顯在變量，也可能包含無(wú)法直接觀測(cè)的潛在變量。結(jié)構(gòu)方程模型可以替代多重回歸、通徑分析、因子分析、協(xié)方差分析等方法，清晰分析單項(xiàng)指標(biāo)對(duì)總體的作用和單項(xiàng)指標(biāo)間的相互關(guān)系。

四、sem標(biāo)尺是300nm放大了多少倍

SEM標(biāo)尺的300nm代表的是放大倍數(shù)，它可以放大至少200倍，最多可以放大500倍。SEM標(biāo)尺的300nm放大倍數(shù)可以根據(jù)不同的樣品來(lái)調(diào)整，以獲得更好的觀察效果。此外，SEM標(biāo)尺的300nm放大倍數(shù)也可以根據(jù)不同的觀察目的來(lái)調(diào)整，以獲得更好的觀察效果。因此，SEM標(biāo)尺的300nm放大倍數(shù)可以根據(jù)實(shí)際情況來(lái)調(diào)整，以獲得更好的觀察效果。

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