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sem檢驗(yàn)

發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 09:38:11 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 118

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本文目錄:

1、統(tǒng)計(jì)學(xué)中 b se χ2 p or 95%ci分別代表什么意思
2、鈣鈦礦電池薄膜測sem的時(shí)候怎么治樣才能保證測試的時(shí)候不變質(zhì)？
3、sem通過探測哪種信號(hào)來獲取樣品表面成分信息
4、SEM掃描電鏡里檢測到的銀(Ag)是否是儀器錯(cuò)判？本身樣品是沒有含有銀這個(gè)物質(zhì)的。

sem檢驗(yàn)

一、統(tǒng)計(jì)學(xué)中 b se χ2 p or 95%ci分別代表什么意思

se應(yīng)該是sem。

1、b代表回歸系數(shù)

回歸系數(shù)在回歸方程中，表示自變量x對(duì)因變量y影響大小的參數(shù)?；貧w系數(shù)越大，表示x對(duì)y影響越大，正回歸系數(shù)，表示y隨x增大而增大，負(fù)回歸系數(shù)表示y隨x增大而減小。例如回歸方程試Y=bX+a中，斜率b稱為回歸系數(shù)，表示X每變動(dòng)一單位，平均而言，Y將變動(dòng)b單位。

2、sem代表標(biāo)準(zhǔn)誤

標(biāo)準(zhǔn)誤，即樣本均數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)差，是描述均數(shù)抽樣分布的離散程度及衡量均數(shù)抽樣誤差大小的尺度，反映的是樣本均數(shù)之間的變異。標(biāo)準(zhǔn)誤不是標(biāo)準(zhǔn)差，是多個(gè)樣本平均數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)差。

3、χ2代表卡方值

卡方值是非參數(shù)檢驗(yàn)中的一個(gè)統(tǒng)計(jì)量，主要用于非參數(shù)統(tǒng)計(jì)分析中，它是卡方檢驗(yàn)中的一個(gè)主要測試指標(biāo)，卡方檢驗(yàn)是一種用途很廣的計(jì)數(shù)資料的假設(shè)檢驗(yàn)方法，它屬于非參數(shù)檢驗(yàn)的范疇。

主要是比較兩個(gè)及兩個(gè)以上樣本率( 構(gòu)成比），以及兩個(gè)分類變量的關(guān)聯(lián)性分析，其根本思想就是在于比較理論頻數(shù)和實(shí)際頻數(shù)的吻合程度或擬合優(yōu)度問題。

4、p代表p值

P值是用來判定假設(shè)檢驗(yàn)結(jié)果的一個(gè)參數(shù)，也可以根據(jù)不同的分布使用分布的拒絕域進(jìn)行比較。

5、OR代表比值比

OR值又稱比值比、優(yōu)勢比，主要指病例組中暴露人數(shù)與非暴露人數(shù)的比值除以對(duì)照組中暴露人數(shù)與非暴露人數(shù)的比值，是流行病學(xué)研究中病例對(duì)照研究中的一個(gè)常用指標(biāo)。

6、95%CI代表95%置信區(qū)間

置信區(qū)間是指由樣本統(tǒng)計(jì)量所構(gòu)造的總體參數(shù)的估計(jì)區(qū)間。在統(tǒng)計(jì)學(xué)中，一個(gè)概率樣本的置信區(qū)間是對(duì)這個(gè)樣本的某個(gè)總體參數(shù)的區(qū)間估計(jì)。

置信區(qū)間展現(xiàn)的是這個(gè)參數(shù)的真實(shí)值有一定概率落在測量結(jié)果的周圍的程度，其給出的是被測量參數(shù)的測量值的可信程度，即前面所要求的“一個(gè)概率”。

sem檢驗(yàn)

擴(kuò)展資料；

為理解P值的計(jì)算過程，用Z表示檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)量，ZC表示根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計(jì)算得到的檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量值。左側(cè)檢驗(yàn)

sem檢驗(yàn)

P值是當(dāng)μ=μ0時(shí)，檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量小于或等于根據(jù)實(shí)際觀測樣本數(shù)據(jù)計(jì)算得到的檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量值的概率，即p值

sem檢驗(yàn)

右側(cè)檢驗(yàn)

sem檢驗(yàn)

P值是當(dāng)μ=μ0時(shí)，檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量大于或等于根據(jù)實(shí)際觀測樣本數(shù)據(jù)計(jì)算得到的檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量值的概率，即p值

sem檢驗(yàn)

雙側(cè)檢驗(yàn)

sem檢驗(yàn)

參考資料來源；百度百科——回歸系數(shù)

百度百科——sem

百度百科——卡方值

百度百科——p值

百度百科——OR值

百度百科——置信區(qū)間

二、鈣鈦礦電池薄膜測sem的時(shí)候怎么治樣才能保證測試的時(shí)候不變質(zhì)？

在鈣鈦礦太陽能電池的生產(chǎn)過程中，鈣鈦礦薄膜質(zhì)量的好壞直接影響鈣鈦礦電池性能的優(yōu)劣。目前對(duì)鈣鈦礦薄膜質(zhì)量的檢測手段主要有兩種，一種是微觀檢測手段，如利用x射線衍射儀（xrd）表征鈣鈦礦薄膜的結(jié)晶程度；利用掃描電子顯微鏡（sem）觀察鈣鈦礦薄膜的微觀形貌；利用原子力顯微鏡（afm）測試鈣鈦礦薄膜表面平整度等，這些微觀檢測手段不僅測試費(fèi)用昂貴、制樣繁瑣、測試時(shí)間長，而且很難整合到實(shí)際的生產(chǎn)線中，無法滿足后續(xù)鈣鈦礦電池組件的批量化生產(chǎn)要求。而另一種檢測手段是使用常規(guī)光譜檢測，如紫外可見漫反射譜（uv-vis）、熒光光譜（pl）等，也因價(jià)格昂貴，光路精度要求高，測試耗時(shí)等因素，限制了其在生產(chǎn)線中的大規(guī)模應(yīng)用。

另一方面，鈣鈦礦薄膜的反應(yīng)程度也會(huì)直接影響鈣鈦礦薄膜的質(zhì)量，而目前對(duì)鈣鈦礦薄膜反應(yīng)程度的判斷尚未見到有效的方法。無論是溶液法還是氣相法制備鈣鈦礦薄膜，只有當(dāng)幾種前驅(qū)體的摩爾量符合化學(xué)計(jì)量數(shù)之比時(shí)，鈣鈦礦薄膜才能充分反應(yīng)，當(dāng)其中一種前驅(qū)體的量不足時(shí)，鈣鈦礦就會(huì)出現(xiàn)反應(yīng)不充分的情況。以最常見的mapbi3鈣鈦礦材料為例，它是由mai和pbi2兩種前驅(qū)體通過化學(xué)反應(yīng)轉(zhuǎn)化而成，當(dāng)mai前驅(qū)體的量不足時(shí)，鈣鈦礦的轉(zhuǎn)化不充分，此時(shí)薄膜中會(huì)殘留較多的pbi2前驅(qū)體，使得鈣鈦礦薄膜在光照下，從正面（入光面為正面，即導(dǎo)電玻璃基底這一面）看去會(huì)呈現(xiàn)淡黃色，說明鈣鈦礦薄膜對(duì)可見光的吸收尚不充分。當(dāng)mai的量逐漸符合化學(xué)計(jì)量數(shù)之比時(shí)，mapbi3的反應(yīng)程度逐漸達(dá)到充分狀態(tài)。在這一過程中，從正面觀察鈣鈦礦薄膜所呈現(xiàn)出來的顏色變化會(huì)從淡黃色逐漸變?yōu)榍嗑G色，再到淡藍(lán)色，最后到紫色，這也從側(cè)面印證了鈣鈦礦薄膜對(duì)光的吸收逐漸擴(kuò)展至整個(gè)可見光范圍。鈣鈦礦薄膜的這種顏色變化過程恰好為我們提供了一種判斷其反應(yīng)程度的指標(biāo)。

機(jī)器視覺是一種使用機(jī)器代替人眼進(jìn)行檢測和判斷的工業(yè)系統(tǒng)，其通過圖像拍攝裝置攝取待檢測樣品的圖像信息，并傳輸至專用的圖像處理系統(tǒng)。圖像處理系統(tǒng)會(huì)將檢測樣品的顏色、亮度、均勻性等信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，并與數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行比對(duì)，從而做出判斷和篩選，并將結(jié)果反饋給現(xiàn)場工作的設(shè)備和檢測人員。相比于人工檢測與篩選，機(jī)器視覺大大提高了樣品檢測的準(zhǔn)確性和生產(chǎn)效率，并在一些不適合人工作業(yè)的危險(xiǎn)環(huán)境中發(fā)揮著重要作用。機(jī)器視覺的應(yīng)用越來越廣泛。

三、sem通過探測哪種信號(hào)來獲取樣品表面成分信息

sem通過探測信號(hào)來獲取樣品表面成分信息，掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成。

電子光學(xué)系統(tǒng)，由電子槍，電磁透鏡，掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號(hào)的激發(fā)源。 sem檢驗(yàn) 為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率，掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑，信號(hào)收集及顯示系統(tǒng)。