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    掃描電鏡sem各個(gè)參數(shù)的意思

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-22 03:21:23     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 57        

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    本文目錄:

    掃描電鏡sem各個(gè)參數(shù)的意思

    一、電子顯微鏡 SEM 的指示燈的意思?

    可能你還沒有機(jī)會(huì)接觸更深,也就是說還沒有機(jī)會(huì)上手操作,否則一定需要培訓(xùn),簡(jiǎn)單培訓(xùn)過后,這些都必須知道,否則連開關(guān)機(jī)都不會(huì)。

    雖然不同型號(hào)標(biāo)識(shí)會(huì)略有不同,但通過意思還能判斷的:

    Power--電鏡主機(jī)的電源開關(guān)

    Air-- 基本是指泄真空,往真空室放氣,這樣才可以打開樣品倉,或者電子槍室等。

    掃描電鏡是高真空系統(tǒng),一般是由兩級(jí)或者三級(jí)真空泵串聯(lián)組成,通過真空閥門和真空測(cè)量器件共同進(jìn)行自動(dòng)邏輯控制。

    START UP -- 開始抽真空 :第一次開機(jī),更換樣品后都需要重新抽真空,現(xiàn)在一般都是在軟件中控制。軟件中本身有指示燈,過去都在主機(jī)上用LED燈顯示。只要保持抽真空狀態(tài),這個(gè)等一直亮。按AIR按鈕后,真空泵停止運(yùn)轉(zhuǎn),這個(gè)燈會(huì)滅。

    SHUT DON-- 關(guān)機(jī),不泄漏真空,但真空泵停止運(yùn)轉(zhuǎn),可以關(guān)閉總電源,保持電鏡真空腔體處于真空狀態(tài)。

    R.P,Ratary Pump 縮寫,是前級(jí)泵,叫做旋片式機(jī)械真空泵,最高這空度0.1Pa,一般需要將真空室從大氣壓抽到10pa 以下。一般掃描電鏡抽真空時(shí)間設(shè)計(jì)在3分鐘以內(nèi)。

    M.P ,Molecular Pump縮寫,是二級(jí)泵,叫做分子泵,必須在氣體的分子流下工作,啟動(dòng)真空度在10pa 以下。

    也不知道你接觸的設(shè)備是哪個(gè)年代的,當(dāng)前新設(shè)備基本都不用真空表,直接是數(shù)字顯示實(shí)際真空度。

    總之都是一個(gè)意思,估計(jì)你的設(shè)備比較老。

    真空表0-10之間,0代表大氣,10代表高真空,高壓電源允許打開的真空度(高壓電源是有真空保護(hù)裝置的,真空達(dá)不到,好的電鏡都會(huì)自動(dòng)鎖住高壓電源開關(guān),萬一真空泄露,也會(huì)自動(dòng)關(guān)閉高壓電源)。

    剛開機(jī)的時(shí)候,是因?yàn)檎婵帐覂?nèi)的腔體處于一定真空狀態(tài),不是從大氣開始抽的,表指示的是初始真空度,如果打開樣品室,更換樣品后再重新抽真空,就是從0開始了。

    二、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜,這幾個(gè)分別是測(cè)什么的?

    測(cè)什么百度一下吧,應(yīng)該都有詳細(xì)的測(cè)試原理及項(xiàng)目。

    區(qū)別應(yīng)該是 SEM和TEM和AFM,越來越高級(jí),放大倍數(shù)越來越高。XRD和紅外光譜這兩個(gè)是沒什么關(guān)系的,xrd是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的,可以測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的,對(duì)于可以看出你的材料是什么。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強(qiáng)度反映了分子結(jié)構(gòu)上的特點(diǎn),可以用來鑒別未知液態(tài)水的紅外光譜物的結(jié)構(gòu)組成或確定其化學(xué)基團(tuán);而吸收譜帶的吸收強(qiáng)度與化學(xué)基團(tuán)的含量有關(guān),可用于進(jìn)行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用于有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)鑒定在有機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、藥物學(xué)、環(huán)境科學(xué)等許多領(lǐng)域。

    三、SEM和TEM的區(qū)別是什么?

    SEM,全稱為掃描電子顯微鏡,又稱掃描電鏡,英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM,全稱為透射電子顯微鏡,又稱透射電鏡,英文名Transmission Electron Microscope.

    區(qū)別:

    1. SEM的樣品中被激發(fā)出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表征樣品的質(zhì)厚襯度,也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。TEM的分辨率比SEM要高一些。

    2. SEM樣品要求不算嚴(yán)苛,而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下,一般做成直徑3mm的片,然后去做離子減薄,或雙噴(或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區(qū)要求)。

    3. TEM可以標(biāo)定晶格常數(shù),從而確定物相結(jié)構(gòu);SEM主要可以標(biāo)定某一處的元素含量,但無法準(zhǔn)確測(cè)定結(jié)構(gòu)。

    四、掃描電鏡標(biāo)尺怎么看

    1、用圖片軟件把標(biāo)尺移到需要測(cè)量的位置。

    2、標(biāo)尺就能清楚判斷圖中結(jié)構(gòu)的尺寸,圖中的層狀結(jié)構(gòu)就是到納米尺度了。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

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