sem圖像怎么分析

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本文目錄:

• 1、sem圖片如何看出來材料分布均勻

• 2、sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣

• 3、從SEM圖中怎么看出是多晶還是單晶

• 4、氧化鋅壓敏陶瓷sem圖像怎么分析

一、sem圖片如何看出來材料分布均勻

從SEM圖上可以看出,樣品內(nèi)部均勻地分布著粒狀的石英、針棒狀的鈣長石和大量玻璃相。

二、sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣

1.sem掃描電鏡的原理是依據(jù)電子和物質(zhì)的相互作用，掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。

2.通過對這些信息的接收、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

3.sem是一種電子顯微鏡，中文名為掃描電子顯微鏡，通過用聚焦電子束掃描樣品的表面而產(chǎn)生樣品表面的圖像。

4.它由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號收集及顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)組成，應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。

5.掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。

6.掃描電鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)。

7.有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)。

8.試樣制備簡單。

9.目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。

三、從SEM圖中怎么看出是多晶還是單晶

看什么樣品。

絕大多數(shù)是看不出來。

一般情況下普通SEM圖不能用來證明一個材料是不是單晶。

但是如果你確定這個材料是多晶材料，可以通過SEM觀察晶界。（有可能需要進行一些預(yù)處理，比如腐蝕什么的。）

對于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰開就能用SEM看晶界和晶粒大小。對于金屬材料，通過腐蝕也可以觀察到晶界。對于薄膜材料，腐蝕后也可以觀察晶界。

對于金屬樣品，有一種方法叫：電子背散射衍射。這種方法需要將樣品拋光的非常平整，然后可以觀察樣品表面的結(jié)晶方向，不過這種方法分辨率較低。這種方法一般用來分析金屬的金相組織，幾乎不用來做單晶的定性分析。

堅定單晶最好的方法還是X射線衍射，方便又便宜。SEM判斷是否為單晶說服力很差，不過一些樣品的SEM圖可以看出是否為多晶。SEM一般不作為堅定單晶的依據(jù)，如果你通過其他方法證明材料為單晶，可以用SEM圖作為佐證。

四、氧化鋅壓敏陶瓷sem圖像怎么分析

研究用多種物理化學(xué)分析手段測定了氧化鋅壓敏瓷常用的氧化物原料的化學(xué)組成和物理狀態(tài),給出有關(guān)的雜質(zhì)種類和含量、粉粒的形狀、顆粒度、粒度分布、真比重和比表面等有

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