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TEM和SEM的異同比較分析以及環(huán)境掃描電鏡,場發(fā)射電鏡與傳統(tǒng)電鏡相比較的技術(shù)特點和應(yīng)用
xrd是x射線衍射,可以分析物相,SEM是掃描電鏡,主要是觀察顯微組織,TEM是透射電鏡,主要觀察超限微結(jié)構(gòu)。AES是指能譜,主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡,也是觀察超微結(jié)構(gòu)的。AFM是原子力顯微鏡,主要是觀察表面形貌用的。
TEM:
透射電子顯微鏡(英語:Transmission electron microscope,縮寫TEM),簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結(jié)構(gòu),即小于0.2μm、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu),又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。 TEM是德國科學(xué)家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基礎(chǔ)上于1932年發(fā)明的。
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sem電鏡分析(sem電鏡分析尺寸)
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本文目錄:
一、tem和sem的異同比較分析以及 環(huán)境掃描電鏡,場發(fā)射電鏡與傳統(tǒng)電鏡
二、電子掃描顯微鏡(SEM)的工作原理???
SEM通過電子來使樣本放大50萬倍,相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時,SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層,產(chǎn)生X射線,釋放不同程度的能力,從而判斷原子的種類。這項技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù),對于分析槍擊痕跡非常有用。
三、SEM、TEM、XRD原理及區(qū)別
1、SEM
搜索引擎營銷:英文Search Engine Marketing ,我們通常簡稱為“SEM”。就是根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機(jī)會盡可能將營銷信息傳遞給目標(biāo)用戶。簡單來說,搜索引擎營銷就是基于搜索引擎平臺的網(wǎng)絡(luò)營銷,利用人們對搜索引擎的依賴和使用習(xí)慣,在人們檢索信息的時候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶。搜索引擎營銷的基本思想是讓用戶發(fā)現(xiàn)信息,并通過點擊進(jìn)入網(wǎng)頁,進(jìn)一步了解所需要的信息。企業(yè)通過搜索引擎付費推廣,讓用戶可以直接與公司客服進(jìn)行交流、了解,實現(xiàn)交易。
2、TEM
(儀器名稱)
透射電子顯微鏡(英語:Transmission electron microscope,縮寫TEM),簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結(jié)構(gòu),即小于0.2微米、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu),又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。
3、xrd
XRD 即X-ray diffraction 的縮寫,是X射線衍射,通過對材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
四、SEM分析法是什么
SEM是scanning electron microscope的縮寫,中文即掃描電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡的設(shè)計思想和工作原理,早在1935年便已被提出來了。1942年,英國首先制成一臺實驗室用的掃描電鏡,但由于成像的分辨率很差,照相時間太長,所以實用價值不大。經(jīng)過各國科學(xué)工作者的努力,尤其是隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的不斷發(fā)展,到1956年開始生產(chǎn)商品掃描電鏡。近數(shù)十年來,掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中,促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。
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