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sem測試一般測多大倍數(shù)（sem測試需要多少樣品）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-14 10:37:06 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 81

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本文目錄:

1、掃描電鏡SEM/EDX測試的井深是多少？
2、SEM和TEM區(qū)別
3、檢測五金裂痕用多大倍數(shù)放大鏡
4、掃描電鏡20um是放大多少倍

sem測試一般測多大倍數(shù)（sem測試需要多少樣品）

一、掃描電鏡SEM/EDX測試的井深是多少？

````

應(yīng)該是景深吧``

焦深計(jì)算公式

L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：

L: 焦深

r: 顯像管最小分辨距離

M：放大倍數(shù)

d：入射電子束直徑

2α：物鏡孔徑角。

從上面的式子可以看出影響焦深的因素，其中隱含了工作距離w。物鏡孔徑角與工作距離和入射電子束直徑有關(guān)。由于r（顯像管的分辨率）和2α都是未知數(shù)，實(shí)際上不能計(jì)算。焦深也只是個(gè)人的視覺感受，還是直觀的測量一下為好。

又查了資料``顯像管最小分辨距離為0.22mm-0.3mm, 孔徑角的典型數(shù)值為10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以計(jì)算出在有效放大倍率下的焦深數(shù)據(jù)。設(shè)d=3納米，孔徑角2α=10-2 rad，r=0.3mm。計(jì)算焦深如下：

1000倍下為59.4微米。5000倍下為11.4微米。10000倍下為5.4微米。超過100000倍已經(jīng)超過了有效放大倍率。不能計(jì)算。

二、SEM和TEM區(qū)別

掃描電子顯微鏡 SEM(scanning electron microscope)

透射電鏡TEM (transmission electron microscope)

掃描電子顯微鏡

是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的人射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng) (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實(shí)現(xiàn)。如對(duì)二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對(duì)x射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。正因如此，根據(jù)不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

透射電鏡

是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴(yán)格。要在機(jī)體死亡后的數(shù)分鐘釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內(nèi)），常用戊二醛和餓酸進(jìn)行雙重固定樹脂包埋,用特制的超薄切片機(jī)（ultramicrotome）切成超薄切片，再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進(jìn)行電子染色。電子束投射到樣品時(shí)，可隨組織構(gòu)成成分的密度不同而發(fā)生相應(yīng)的電子發(fā)射，如電子束投射到質(zhì)量大的結(jié)構(gòu)時(shí)，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。

三、檢測五金裂痕用多大倍數(shù)放大鏡

提問有些模糊。

檢測的目的是什么？

如果是要查看裂紋的源頭和裂紋形貌，我們帆泰檢測是用的SEM，10萬倍左右可以看的很清晰了，主要是用來做材料的失效分析；

如果你是QC驗(yàn)貨來查看，一般10倍的目鏡就夠了。

四、掃描電鏡20um是放大多少倍

只知道標(biāo)尺無法知道放大倍數(shù)。

拿尺子量一下標(biāo)尺，用尺子上的刻度除以標(biāo)尺的刻度就是放大倍數(shù)。

例如：尺子量出標(biāo)尺長10mm，標(biāo)尺上標(biāo)稱10um，那么放大倍數(shù)就是10mm/10um就是1000倍。

掃描電鏡的放大率與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以，SEM中，透鏡與放大率無關(guān)。

sem測試一般測多大倍數(shù)（sem測試需要多少樣品）

工作原理：

SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)來控制熒光屏上電子束的強(qiáng)度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。

圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。為了使標(biāo)本表面發(fā)射出次級(jí)電子，標(biāo)本在固定、脫水后，要噴涂上一層重金屬微粒，重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級(jí)電子信號(hào)。

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