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掃描電鏡mapping

發(fā)布時間：2023-04-14 05:53:41 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 112

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本文目錄:

1、高分請高人幫忙翻譯英語文獻??！緊急！
2、哪位高手幫忙翻譯下幾個國外的參考文獻。。。謝謝
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4、鋯石的電子探針綜合分析研究

掃描電鏡mapping

一、高分請高人幫忙翻譯英語文獻?。【o急！

電子探針進行了關(guān)于橫向展開和拋光標本，鍍鋅板，參展暴露了點，以確認存在被燒焦的炭質(zhì)問題/殘留在脫層涂層鋼接口。標本樣品大規(guī)模和小條紋，觀察在背散射電子（瘋牛病）成像模式和定性分析波長色散光譜發(fā)展相對分布的鐵，鋅，碳，氧在涂層鋼界面。一個典型的瘋牛病成分的形象，涂層-鋼界面隨著X射線元素映象的鐵，鋅碳，氧，在鍍鋅板標本說，展示了大量裸露現(xiàn)貨顯示在圖（ a ）至（ e ）項，而線形的形象，碳結(jié)果表明，在圖11 （ f ）段。作為是明顯的從鏡，探針分析揭示了強有力的存在的碳和氧在涂層鋼界面。這表明在場的包埋碳質(zhì)殘留在鋼涂層的界面。再次，碳質(zhì)殘留物被認為是有出自燃燒結(jié)轉(zhuǎn)超過冷軋油。窮人堅持鋅層也很明顯，從它的分層與鋼鐵表面，由于是清楚顯示，在瘋牛病的形象。

第六段鍍鋅浴中所載的更高的鋁和鐵及較低的水平，導(dǎo)致超過規(guī)定的業(yè)務(wù)規(guī)范和增加的敏感性，鍍鋅過程中，以表面的清潔程度，鋼襯底。發(fā)生冷軋油進行接管，并成立了碳沉積在資產(chǎn)負債表的表面以下退火導(dǎo)致的發(fā)病率裸景點，以及剝離/果皮小康的現(xiàn)象。

第七段的掃描電鏡/ EDS和電子探針研究鍍鋅板標本展示裸點和剝離證實存在被燒焦的碳質(zhì)殘留物和氧化滾動碎片（可能構(gòu)成的鐵的罰款）對退火帶鋼表面。這兩種物質(zhì)受損的潤濕性，熔融鋅與鋼基，并導(dǎo)致形成的裸露點和/或窮人堅持在涂層領(lǐng)域，導(dǎo)致在涂層脫落/果皮小康。

二、哪位高手幫忙翻譯下幾個國外的參考文獻。。。謝謝

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三、求助中文目錄翻譯成英文。在線等！急用，謝謝！

The physical basis of the first chapter of ultrasonic detection

1.1 vibration and wave

1.2 ultrasonic propagation

1.3 ultrasonic plane wave in the interface vertically incident behavior

1.4 ultrasonic plane wave in the plane of oblique incident behavior

1.5 focus and divergent

And the 1.6 ultrasonic ultrasonic field

1.7 ultrasonic attenuation

The second chapter of train wheel & tyre structure and production process

The structure and classification of the 2.1 train wheel tyre

Overview of manufacturing technology of the 2.2 train rolling wheel hub

The 2.3 train wheel tyre quality inspection

Mechanism and Countermeasures to form 2.4 major defects

Subjective inspection and maps of the third chapter wheel-tyre defects

The experimental and the defect of 3.1 acid leaching

3.2 fracture inspection and defect map

The fourth chapter of inspection and metallographic wheel-tyre defects

4.1 metallographic sample selection and interception

4.2 metallographic sample preparation

Methods 4.3 microstructure test

Metallographic examination and analysis of 4.4 wheel tyre

Test and the fifth chapter of electronic scanning the wheel tyre

5.1 scanning electron microscope

5.2 spectrometer

5.3 SEM sample preparation

Mapping and analysis of 5.4 scanning electron microscope

Ultrasonic detection and mapping the sixth chapter wheel-tyre defects

6.1 ultrasonic tester

Ultrasonic detection of 6.2 wheel tyre

6.3 digital ultrasonic scanning technique

Detection and analysis of defect map and the corresponding 6.4 wheel ultrasonic

Analysis of seventh examples of chapter wheel-tyre defects

7.1 wheel flaw detection and classification of defects

Analysis of 7.2 CL-1 wheel flaw detection

(Analysis of 7.4 CL-3 passenger car wheel defect analysis of 7.5 CL-4 wheel, CL-5 ring defect analysis of 7.3 CL-2 wheel flaw detection)是7.3,7.4,7.5的翻譯

Analysis of 7.6 CL-6 wheel flaw detection

A flaw analysis of 7.7 CL-7 ring

Analysis of 7.8 CL-8 Metro wheel flaw detection

Analysis of 7.9 CL-9 wheel flaw detection

Analysis of 7.10 CL-10 wheel flaw detection

Analysis of 7.11 CL-11 ring, CL-12 wheel flaw detection

Analysis of 7.12 CL-13 wheel flaw detection

Analysis of 7.13 CL-14 Metro wheel flaw detection

Wheel flaw inspection crack analysis of 7.14 CL-15 pier

Analysis of 7.15 CL-16 wheel flaw detection

Location map of a typical defects of wheel ultrasonic appendix

Appendix two wheel ultrasonic flaw detection of A feature map

Appendix three wheel ultrasonic flaw detection of C feature map

Appendix four wheel ultrasonic flaw detection of S feature map

Appendix five wheel ultrasonic low Times Atlas

Of appendix six wheel ultrasonic metallograph appendix seven wheel ultrasonic corresponding anatomy

Of appendix seven wheel ultrasonic corresponding anatomy

四、鋯石的電子探針綜合分析研究

近年來，對某些礦物的電子探針綜合分析研究有了比較深入的開展，如對鋯石、獨居石、磷釔礦、金紅石等礦物的研究。

鋯石是各種巖漿巖、變質(zhì)巖以及沉積巖中常見的副礦物，由于這些副礦物富含有放射性元素U、Th，它們是U-Pb同位素測年方法中的主要測量對象。多年來人們利用鋯石測得了大量的U-Pb同位素年齡數(shù)據(jù)，提供了地史中各個地質(zhì)時期的地層或熱-構(gòu)造事件的地質(zhì)年代信息。隨著研究工作的深入，發(fā)現(xiàn)許多試樣中的鋯石群常具有不同年代和不同成因，甚至在一個鋯石晶體的核部和邊緣，其年齡和成因都可能不同。傳統(tǒng)的微量鋯石U-Pb法可能給出混合的地質(zhì)年代信息，即使應(yīng)用單顆粒鋯石測年，其數(shù)據(jù)的地質(zhì)意義也可能具有多解性。目前國內(nèi)外已越來越多地利用高靈敏高分辨離子探針(SHRIMP)或激光等離子體質(zhì)譜法(LA-ICPMS)直接測量鋯石內(nèi)不同部位20～30μm微區(qū)的U-Pb年齡，研究微區(qū)內(nèi)痕量元素的分布，以期更深入的研究這些礦物中所包含的地質(zhì)年齡和地球化學(xué)的信息。但是，由于這些分析方法所需要的試樣必須是厚樣品，很難進行透射光下的顯微鏡觀察，無法獲得礦物顆粒內(nèi)部的有用信息。事實上，由于這些礦物所經(jīng)歷的地質(zhì)歷史較長，各種地質(zhì)作用都有可能在其結(jié)構(gòu)中留下特定的痕跡，因此，觀察、了解這些礦物內(nèi)部不同部位的微區(qū)成分和結(jié)構(gòu)變化特點對于礦物的發(fā)生、發(fā)展史的追溯及至年齡測量微區(qū)的選擇有著非常重要的意義。以陰極發(fā)光技術(shù)和電子探針的多種分析手段對鋯石礦物進行綜合研究，為解決這一問題提供了最佳的途徑，受到國內(nèi)外的注目，這是微束分析技術(shù)中值得重視的一項研究。

陰極發(fā)光的發(fā)生是由于物質(zhì)中有雜質(zhì)元素的存在或晶體結(jié)構(gòu)中如位錯、空位和偏離化學(xué)計量比、結(jié)晶體中的無序、晶格破壞(如α衰變)等缺陷的存在而引起。鋯石等礦物中常含有多種雜質(zhì)元素和其他一些結(jié)構(gòu)缺陷，因而通常具有較好的陰極發(fā)光。由于陰極發(fā)光的差異取決于礦物中的痕量元素的種類及含量，而痕量元素的地球化學(xué)特點恰恰表現(xiàn)在對地質(zhì)環(huán)境變化的靈敏性上。因此，換句話說，陰極發(fā)光圖像可以靈敏地反映礦物中痕量元素的變化特點，進而反映地質(zhì)環(huán)境的變化。通過陰極發(fā)光圖像的分析研究，在多數(shù)情況下可以初步了解鋯石等礦物的發(fā)生、發(fā)展史。此外，由于在鋯石等礦物的陰極發(fā)光圖像上可以見到環(huán)帶等使用其他方法不易見到的一些現(xiàn)象，當它同電子探針等其他傳統(tǒng)分析方法相結(jié)合，并使用同位素和微區(qū)化學(xué)成分研究時，就能揭示出鋯石在地質(zhì)歷史中的結(jié)晶過程或重結(jié)晶過程中的溫度改變，冷卻速率、流體或熔融物析出的細節(jié)，以及溶解和重熔等現(xiàn)象，為了解和研究鋯石的發(fā)生、發(fā)展史及其母巖的形成演化歷史乃至大地構(gòu)造單元巖漿活動、變質(zhì)作用和構(gòu)造演化等地質(zhì)問題提供極為有用的豐富的信息。鋯石成為一個可以“閱讀”的名副其實的地質(zhì)歷史的“存儲器”。

在電子探針下研究陰極發(fā)光的優(yōu)勢是不僅具有較高的分辨率，有可能從小到1μm²的區(qū)域上進行鋯石及其各種包體的觀察和光譜測量，還能在理想的條件下，分析主量元素和低至μg/g級的雜質(zhì)元素的含量，以分析其發(fā)光的可能原因。同時還可以把陰極發(fā)光的圖像觀察與透射光或反射光圖像觀察、背散射電子圖像觀察相結(jié)合，這不僅有助于陰極發(fā)光現(xiàn)象的解釋和應(yīng)用，還可以獲得更多有關(guān)晶體的發(fā)生和生長的歷史的信息。在對鋯石進行測年分析前，這些研究可以為正確選擇測年的方法，特別是在鋯石的SHRIMP或LA-ICP-MS微區(qū)測年中選擇合適的測年位置提供必要的幫助和指導(dǎo);在獲得同位素年齡數(shù)據(jù)后，也需要用這些研究所獲得的認識來對年齡結(jié)果進行合理的解釋。

以下結(jié)合幾個分析實例說明方法的主要特點。

初步分析認為，圖89.30中的鋯石自形程度較好且具有規(guī)則的韻律生長環(huán)帶，是一顆典型的巖漿結(jié)晶鋯石;圖89.31中的鋯石的生長應(yīng)該至少具有兩個期次，其內(nèi)核為保存完好的巖漿結(jié)晶鋯石，外部具渾圓形，可能是后期變質(zhì)增生的產(chǎn)物;圖89.32是產(chǎn)自大別山榴輝巖中的鋯石，其內(nèi)核鋯石的內(nèi)部結(jié)構(gòu)已被構(gòu)造成面團狀，外環(huán)部分可能是超高壓變質(zhì)作用的新生鋯石。

圖89.30 鋯石的陰極發(fā)光圖像和背散射圖像

圖89.31 鋯石的陰極發(fā)光圖像和背散射圖像

圖89.32 鋯石的陰極發(fā)光圖像和背散射圖像

綜上所述，可以為鋯石的電子探針綜合分析作如下結(jié)論:

從圖89.30、圖89.31、圖89.32的幾個電子探針下鋯石的陰極發(fā)光(CL)圖像和背散射電子(BSE)圖像中我們可以看到，陰極發(fā)光圖像的確能揭示出用其他方法很難獲得的鋯石內(nèi)部的結(jié)構(gòu)特點，較好地揭示鋯石生長的多期次性，以使我們通過追溯鋯石的成因歷史來確定地質(zhì)事件的發(fā)展歷史。

由于電子探針中對平均原子序數(shù)靈敏度極高的背散射電子成分(COMP)圖像(即BSE圖像)，可以提供鋯石的某些成分信息;而且在許多情況下，尤其是當某些鋯石的陰極發(fā)光強度較弱時，背散射電子成分圖像有可能比其陰極發(fā)光圖像能更清楚地看到其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化，并且其空間分辨率通常可比陰極發(fā)光圖像好一個數(shù)量級，鋯石中的裂隙和包體在背散射圖像上也能更清楚地反映出來(如圖89.30右、圖89.31右、圖89.32右)，因此，背散射電子圖像也是鋯石觀測研究不可缺少的。通常，需要把兩種圖像結(jié)合起來進行研究，才能更好地揭示鋯石的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

電子探針中的二次電子(SE)圖像和背散射電子平面(TOPO)圖像可以提供鋯石表面的形態(tài)，包括表面磨光度、磨坑、裂縫、殘余磨料等，這對于選擇理想的測年分析區(qū)域是極為有用的。特別是在如何準確找到一個U-Th-Pb封閉區(qū)，避開因鉛丟失而帶來的測量誤差方面有其獨特的意義。此外，電子探針中的X射線圖像還可以形象地觀測鋯石內(nèi)部的元素分布特點。

電子探針常規(guī)的化學(xué)成分分析技術(shù)，包括X射線能譜定量分析技術(shù)等，可以方便快速地分析鑒定鋯石中各種類型的包體及其成分特征，這些包體的不同組合和成分特征，正是探討鋯石成因的重要依據(jù)。如在對大別山西部河南羅山熊店的榴輝巖中鋯石的研究中，發(fā)現(xiàn)鋯石中含有許多金紅石、硬玉、綠輝石、石榴子石、云母、石英、磷灰石等包體，結(jié)合陰極發(fā)光圖像、背散射電子圖像及SHRIMP測年分析，進一步證實了大別山加里東期的榴輝巖的存在，且其中鋯石在300Ma左右又經(jīng)歷了一次后期的熱液改造作用。

本方法具有電子探針分析的許多優(yōu)點，如微區(qū)微量、簡便快速、可同時獲得多種信息、不損壞樣品且費用較低等，陰極發(fā)光技術(shù)和電子探針分析的結(jié)合使這種方法具有得天獨厚的優(yōu)勢，是一個分析研究鋯石等礦物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、微區(qū)成分分布特點及其成因的最佳方法。這對于我國當前正在開展之中的鋯石SHRIMP微區(qū)測年分析研究和許多重大的地質(zhì)年代學(xué)問題的深入研究，將具有不可估量的重大意義。

本方法不僅適用于鋯石，還將可以適用于獨居石、磷釔礦、磷灰石、褐簾石、釷石和瀝青鈾礦等富含Th、U的測年礦物。由于這種方法能夠提供上述如此豐富的信息，若能得到推廣應(yīng)用，必將解決更廣泛的地質(zhì)問題。

本章討論了電子探針分析技術(shù)中最基本的問題。實際應(yīng)用中還有一些至關(guān)重要的問題，如試樣制備、標樣選擇與使用，試樣的預(yù)觀察等，讀者可參考其他有關(guān)資料。

參考文獻

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電子探針和掃描電鏡 X 射線能譜定量分析通則 (GB/T 17359—1998) ［S］.1998.北京: 中國標準出版社

硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法 (GB/T 15617—2002) ［S］.2002.北京: 中國標準出版社

礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法 (GB/T 17366—1998) ［S］.1998.北京: 中國標準出版社

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本章編寫人: 周劍雄 (中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所) 。

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