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sem掃描電鏡測量距離

發(fā)布時間：2023-04-14 03:47:06 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 146

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本文目錄:

1、sem掃描電鏡是測什么的
2、掃描電鏡是用來測什么的
3、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測試過程需要重點注意哪些操作
4、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

sem掃描電鏡測量距離

一、sem掃描電鏡是測什么的

SEM描電鏡主要應(yīng)用于微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。SEM一般通過搭配能譜儀EDS使用,可利用EDS進行元素成分定性、定量分析。用來觀測芯片內(nèi)部層次和測量各層厚度、觀測并拍攝局部異常照片和測量異常尺寸、測量芯片關(guān)鍵尺寸線寬和孔徑、定性和定量分析異常污染物的化學(xué)元素組成。

二、掃描電鏡是用來測什么的

掃描電鏡（SEM）一般用來觀察組織細胞的表面形貌。

我見過的SEM可以觀察到微絨毛、偽足、正在死亡的細胞表面出現(xiàn)的穿孔等結(jié)構(gòu)，可能還有更高級的吧。透射電鏡（TEM）可以用來觀察細胞內(nèi)部的細胞器等超微結(jié)構(gòu)。不過我猜想操作技術(shù)足夠精細到將一個細胞剖開的話，SEM也是可以觀察細胞內(nèi)部的。

sem掃描電鏡測量距離

掃描電鏡的工作原理：

掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進行測試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運動，并被樣品吸收。

在此過程中有99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)變成樣品熱能，而其余約1%的入射電子能量從樣品中激發(fā)出各種信號。這些信號主要包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動勢、陰極發(fā)光、X射線等。掃描電鏡設(shè)備就是通過這些信號得到訊息，從而對樣品進行分析的。

三、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測試過程需要重點注意哪些操作

電鏡的原理是：電子槍發(fā)出電子束打到樣品表面，激發(fā)出二次電子、背散射電子、X-ray等特征信號，經(jīng)收集轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號，得到相應(yīng)的形貌或成分信息。

測試注意事項：

1、新人找別人幫忙測試時，

明確自己的測試內(nèi)容，如何樣品前處理，測試時間，然后跟測試相關(guān)人員聯(lián)系確定能否滿足你的測試需求

2、新人自己操作測試時，

明確自己的測試內(nèi)容，如何樣品前處理，測試時間，

測試時注意樣品干燥潔凈，操作時樣品和樣品臺避免撞到探頭

四、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層，產(chǎn)生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù)，對于分析槍擊痕跡非常有用。

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