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sem圖怎么描述晶體形貌

發(fā)布時間：2023-04-13 23:59:15 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 63

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本文目錄:

1、SEM、TEM、XRD原理及區(qū)別
2、新手求助，如何判別金屬斷口SEM形貌
3、請教金相圖與SEM圖的區(qū)別~
4、SEM和TEM區(qū)別

sem圖怎么描述晶體形貌

一、SEM、TEM、XRD原理及區(qū)別

1、SEM

搜索引擎營銷：英文Search Engine Marketing ，我們通常簡稱為“SEM”。就是根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機(jī)會盡可能將營銷信息傳遞給目標(biāo)用戶。簡單來說，搜索引擎營銷就是基于搜索引擎平臺的網(wǎng)絡(luò)營銷，利用人們對搜索引擎的依賴和使用習(xí)慣，在人們檢索信息的時候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶。搜索引擎營銷的基本思想是讓用戶發(fā)現(xiàn)信息，并通過點(diǎn)擊進(jìn)入網(wǎng)頁，進(jìn)一步了解所需要的信息。企業(yè)通過搜索引擎付費(fèi)推廣，讓用戶可以直接與公司客服進(jìn)行交流、了解，實(shí)現(xiàn)交易。

2、TEM

（儀器名稱）

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結(jié)構(gòu)，即小于0.2微米、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu)，又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。

3、xrd

XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，是X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

二、新手求助，如何判別金屬斷口SEM形貌

已經(jīng)斷開的的試樣可以用鋸子把斷裂截面切下來（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里觀察了。至于沒斷開，僅僅開裂的試樣，恐怕只能從式樣表面觀察一下了，同樣也是用句子把含有裂紋的部分切下來即可。時間久了的最大問題是氧化，但是作為SEM觀察，其實(shí)氧化也無所謂了，重要的是注意，別把斷口碰了，以免裂紋表面形貌損壞。關(guān)于尋找裂紋源其實(shí)很簡單，疲勞端口上通常分為裂紋起始區(qū)，裂紋擴(kuò)展區(qū)和瞬斷區(qū)。裂紋起始區(qū)用肉眼看往往呈現(xiàn)為一個光亮的小點(diǎn)，在材料表面或者表面以下一點(diǎn)點(diǎn)的地方。如果樓主在斷口上看到有放射狀分布紋理，那么這些紋理發(fā)散開去的方向是裂紋擴(kuò)展的防線，這些紋理匯聚的點(diǎn)就是疲勞源了。查看>>

三、請教金相圖與SEM圖的區(qū)別~

金相觀察是依賴可見光的反射,其原理是被腐蝕的晶界處發(fā)生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蝕的晶粒內(nèi)部發(fā)生的是鏡面反射,在照片上是亮的.SEM分二次電子像和背散射電子像:二次電子像必須腐蝕樣品,不腐蝕的話什么都看不到.照完金相的樣品可以直接照二次電子,但照片的情況有所不同,<1000倍時,二次電子像觀察到的晶界是亮的,因?yàn)榫Ы绫桓g掉,樣品在晶界出現(xiàn)棱角,二次電子的產(chǎn)額大,因此是量的,晶界內(nèi)部反而暗.如果倍數(shù)放到足夠大,能夠看清晶界處的腐蝕程度和凹凸情況;背散射電子像是分析樣品的成分分布,最好不要腐蝕樣品,因?yàn)楦g樣品會把第二相腐蝕掉.

四、SEM和TEM區(qū)別

掃描電子顯微鏡 SEM(scanning electron microscope)

透射電鏡TEM (transmission electron microscope)

掃描電子顯微鏡

是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的人射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實(shí)現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對x射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。正因如此，根據(jù)不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

透射電鏡

是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴(yán)格。要在機(jī)體死亡后的數(shù)分鐘釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內(nèi)），常用戊二醛和餓酸進(jìn)行雙重固定樹脂包埋,用特制的超薄切片機(jī)（ultramicrotome）切成超薄切片，再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進(jìn)行電子染色。電子束投射到樣品時，可隨組織構(gòu)成成分的密度不同而發(fā)生相應(yīng)的電子發(fā)射，如電子束投射到質(zhì)量大的結(jié)構(gòu)時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。

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