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掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡

發(fā)布時(shí)間：2023-04-13 10:14:39 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 142

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本文目錄:

1、掃描電鏡是用來測(cè)什么的
2、掃描電鏡與透射電鏡有什么區(qū)別掃描電鏡與透射電鏡有哪些不同
3、掃描透射電子顯微鏡的介紹
4、如何發(fā)揮原子力顯微鏡，掃描電子顯微鏡透射電子顯微鏡各自優(yōu)勢(shì)

掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡

一、掃描電鏡是用來測(cè)什么的

品牌型號(hào)：sfmit掃描電鏡

系統(tǒng)：DSF-60

掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡

掃描電鏡是用來測(cè)樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm；放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大、視野大、成像立體效果好。

此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。

二、掃描電鏡與透射電鏡有什么區(qū)別掃描電鏡與透射電鏡有哪些不同

1、掃描電鏡，是觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)特征；透射電鏡，是觀察樣品的內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)；

2、掃描電鏡是相當(dāng)與對(duì)物體的照相，得到的是表面的，只是表面的立體三維的圖象；透射電竟就相當(dāng)于普通顯微鏡，只是用波長(zhǎng)更短的電子束替代了會(huì)發(fā)生衍射的可見光，從而實(shí)現(xiàn)了顯微，是二維的圖象，會(huì)看到表面的圖象的同時(shí)也看到內(nèi)層物質(zhì)。

三、掃描透射電子顯微鏡的介紹

掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描，通過電子穿透樣品成像。STEM技術(shù)要求較高，要非常高的真空度，并且電子學(xué)系統(tǒng)比TEM和SEM都要復(fù)雜。

掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡

四、如何發(fā)揮原子力顯微鏡，掃描電子顯微鏡透射電子顯微鏡各自優(yōu)勢(shì)

原子力AFM分辨率很高，通常看物質(zhì)表面形貌，縱向達(dá)到10nm級(jí)是無壓力的。透射TEM一般標(biāo)尺可以到20nm，不過具體看材料能做到多少，如果是高分辨HRTEM，那是用來看晶格的，標(biāo)尺甚至可以達(dá)到2nm。掃描SEM的話至少可以到微米級(jí)，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡FESEM就更高了，材料導(dǎo)電性好一般可以到100nm的標(biāo)尺還很清晰。。反正一般放大到8W-10W倍，標(biāo)尺就是100nm了，你可以換算一下。。

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