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sem的eds和mapping什么區(qū)別(eds與mapping的區(qū)別)
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本文目錄:
一、SEM -EDS是什么意思 小木蟲
SEM是scanning electron microscope的縮寫,中文即掃描電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡的設計思想和工作原理,早在1935年便已被提出來了。1942年,英國首先制成一臺實驗室用的掃描電鏡,但由于成像的分辨率很差,照相時間太長,所以實用價值不大。經過各國科學工作者的努力,尤其是隨著電子工業(yè)技術水平的不斷發(fā)展,到1956年開始生產商品掃描電鏡。近數十年來,掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫(yī)學、冶金學等學科的領域中,促進了各有關學科的發(fā)展。
EDS, an HP company 是全球信息服務業(yè)領導者之一,以協(xié)助全球客戶提高企業(yè)的運營績效。另有EDS (能譜,Energy Dispersive Spectrometer),EDS電氣設計軟件包
二、SEI是指什么測試手段,elemental mapping是用什么儀器測得?
elemental mapping 是通過energy dispersive spectroscopy (EDS)-能譜儀測出
三、SEM+EDS分析是什么意思
SEM(scanning electron microscope):掃描式電子顯微鏡EDS(Energy Dispersive Spectrometer):X光微區(qū)分析
四、電子探針和eds區(qū)別
元素定量定性方面,電子探針與EDS的區(qū)別在于電子探針采用的是波譜(WDS)分析,EDS采用的是能譜分析。為了有助于理解電子探針,同學們可以將它認為是一臺EDS功能更為強大(靈敏度以及分辨率都超過EDS一個數量級)的掃描電鏡(EPMA同時也具備SEM各類功能)。另外,電子探針也能對超輕元素進行準確定量分析(B、C、N、O、F),這是EDS無法做到的。
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