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sem指標(biāo)測(cè)試（sem測(cè)試方法）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 16:16:33 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 109

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于sem指標(biāo)測(cè)試的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

1、SEM營(yíng)銷核心指標(biāo)有哪些?
2、名詞解釋：1、SPS燒結(jié) 2、SEM測(cè)試
3、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個(gè)分別是測(cè)什么的？
4、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過(guò)程需要重點(diǎn)注意哪些操作

sem指標(biāo)測(cè)試（sem測(cè)試方法）

一、SEM營(yíng)銷核心指標(biāo)有哪些?

SEM指標(biāo)主要有：

1、展示量：體現(xiàn)競(jìng)價(jià)關(guān)鍵詞，推廣單元優(yōu)化程度，出價(jià)是否合理

2、用戶點(diǎn)擊量：創(chuàng)意編寫好壞，匹配方式是否合理

3、用戶訪問(wèn)時(shí)間：網(wǎng)站產(chǎn)品信息，內(nèi)容質(zhì)量

4、咨詢數(shù)量：網(wǎng)站產(chǎn)品信息，內(nèi)容質(zhì)量

5、購(gòu)買量：客服服務(wù)質(zhì)量

1和2主要是競(jìng)價(jià)問(wèn)題，3和4是網(wǎng)站質(zhì)量，5是銷售階段

每個(gè)階段對(duì)于不同問(wèn)題，需要一一解決

二、名詞解釋：1、SPS燒結(jié) 2、SEM測(cè)試

SPS燒結(jié):放電等離子燒結(jié)，assisted particle sintering

SEM測(cè)試：scanning electron microscopy 掃描電子顯微鏡測(cè)試

第一個(gè)英語(yǔ)不肯定，第二個(gè)絕對(duì)肯定

三、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個(gè)分別是測(cè)什么的？

測(cè)什么百度一下吧，應(yīng)該都有詳細(xì)的測(cè)試原理及項(xiàng)目。

區(qū)別應(yīng)該是 SEM和TEM和AFM，越來(lái)越高級(jí)，放大倍數(shù)越來(lái)越高。XRD和紅外光譜這兩個(gè)是沒(méi)什么關(guān)系的，xrd是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的，可以測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的，對(duì)于可以看出你的材料是什么。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強(qiáng)度反映了分子結(jié)構(gòu)上的特點(diǎn)，可以用來(lái)鑒別未知液態(tài)水的紅外光譜物的結(jié)構(gòu)組成或確定其化學(xué)基團(tuán)；而吸收譜帶的吸收強(qiáng)度與化學(xué)基團(tuán)的含量有關(guān)，可用于進(jìn)行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用于有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)鑒定在有機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、藥物學(xué)、環(huán)境科學(xué)等許多領(lǐng)域。

四、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過(guò)程需要重點(diǎn)注意哪些操作

電鏡的原理是：電子槍發(fā)出電子束打到樣品表面，激發(fā)出二次電子、背散射電子、X-ray等特征信號(hào)，經(jīng)收集轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，得到相應(yīng)的形貌或成分信息。

測(cè)試注意事項(xiàng)：

1、新人找別人幫忙測(cè)試時(shí)，

明確自己的測(cè)試內(nèi)容，如何樣品前處理，測(cè)試時(shí)間，然后跟測(cè)試相關(guān)人員聯(lián)系確定能否滿足你的測(cè)試需求

2、新人自己操作測(cè)試時(shí)，

明確自己的測(cè)試內(nèi)容，如何樣品前處理，測(cè)試時(shí)間，

測(cè)試時(shí)注意樣品干燥潔凈，操作時(shí)樣品和樣品臺(tái)避免撞到探頭

以上就是關(guān)于sem指標(biāo)測(cè)試相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問(wèn)題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。