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掃描電鏡
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本文目錄:
一、透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別
透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別:結構不同、工作原理不同、對樣品的要求不同、操作不同、放大倍數(shù)不同、用途不同等。透射電鏡(TEM)可以將樣品放大5000萬倍以上,而對于掃描電鏡(SEM)來說,限制在1-2百萬倍之間。
透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別是什么
掃描電鏡(SEM)使用一組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品并收集散射的電子。而透射電鏡(TEM)是使用透射電子,收集透過樣品的電子。
透射式電鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構,而掃描電鏡主要用于觀察固體表面的形貌和物質成分分析。
透射式電鏡的電子由鎢絲熱陰極發(fā)射出,通過第一、二兩個聚光鏡使電子束聚焦。掃描電鏡的電子束僅以聚焦的方式呈現(xiàn)在樣本的一小塊地方。
操作環(huán)境
品牌型號:通用
系統(tǒng)版本:通用
二、sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣
1.sem掃描電鏡的原理是依據(jù)電子和物質的相互作用,掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描,激發(fā)出各種物理信息。
2.通過對這些信息的接收、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌的觀察。
3.sem是一種電子顯微鏡,中文名為掃描電子顯微鏡,通過用聚焦電子束掃描樣品的表面而產(chǎn)生樣品表面的圖像。
4.它由電子光學系統(tǒng)、信號收集及顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)組成,應用于生物、醫(yī)學、材料和化學等領域。
5.掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
6.掃描電鏡的優(yōu)點是,有較高的放大倍數(shù),20-20萬倍之間連續(xù)可調。
7.有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構。
8.試樣制備簡單。
9.目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
三、掃描電鏡屬于幾類器械
二類。掃描電鏡即掃描電子顯微鏡,是顯微鏡的一種,二類器械包括x線拍片機,b超,顯微鏡,生化儀等。因此屬于二類。顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器,是人類進入原子時代的標志。主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。
四、掃描電鏡算什么行業(yè)
掃描電子顯微鏡簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析?,F(xiàn)在掃描式電子顯微鏡都與能譜(EDS)組合,可以進行成分分析。所以,掃描式電子顯微鏡也是顯微結構分析的主要儀器,已廣泛用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。
掃描式電子顯微鏡行業(yè)上游主要包括電子元器件、光學儀器產(chǎn)品及其他配件。掃描式電子顯微鏡主要應用于主要用于紡織、化工、印染、儀器儀表、材料分析、教學科研等許多領域。
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