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SEM掃描電鏡品牌

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 10:38:22 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 63

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本文目錄:

1、掃描電鏡用的導(dǎo)電樹(shù)脂，國(guó)內(nèi)哪家有？
2、SEM與TEM有什么區(qū)別??？
3、哪里銷售便宜的掃描電子顯微鏡（SEM）？
4、第一臺(tái)掃描電鏡發(fā)明者

SEM掃描電鏡品牌

一、掃描電鏡用的導(dǎo)電樹(shù)脂，國(guó)內(nèi)哪家有？

大家經(jīng)常把金相樣品拿來(lái)直接做掃描電鏡，這樣可以把二者的內(nèi)容統(tǒng)一起來(lái)，但是一般鑲嵌樹(shù)脂是不導(dǎo)電的，所以電鏡檢測(cè)的效果不理想。目前市面上的導(dǎo)電樹(shù)脂一般有兩種導(dǎo)電機(jī)理，一種是石墨導(dǎo)電，另外一種是金屬導(dǎo)電，所以你可以選擇適合你的類型。進(jìn)口頂級(jí)品牌的當(dāng)然沒(méi)有問(wèn)題，國(guó)內(nèi)可以替代進(jìn)口產(chǎn)品應(yīng)該算上海川禾吧，我也找了很多綜合感覺(jué)他們最有實(shí)力，你自己再看看吧，希望對(duì)你有幫助。

二、SEM與TEM有什么區(qū)別??？

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.

區(qū)別：

SEM的樣品中被激發(fā)出來(lái)的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表征樣品的質(zhì)厚襯度，也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。TEM的分辨率比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴(yán)苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然后去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區(qū)要求）。
TEM可以標(biāo)定晶格常數(shù)，從而確定物相結(jié)構(gòu)；SEM主要可以標(biāo)定某一處的元素含量，但無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)定結(jié)構(gòu)。

三、哪里銷售便宜的掃描電子顯微鏡（SEM）？

天美

四、第一臺(tái)掃描電鏡發(fā)明者

1926 Busch 發(fā)現(xiàn)電子可像光線經(jīng)過(guò)玻璃透鏡偏折一般，由電磁場(chǎng)的改變而偏折。1931德國(guó)物理學(xué)家Knoll 及Ruska 首先發(fā)展出穿透式電子顯微鏡原型機(jī)。

發(fā)展歷史如下：

1873 Abbe 和Helmholfz 分別提出解像力與照射光的波長(zhǎng)成反比。奠定了顯微鏡的理論基礎(chǔ)

1897 J.J. Thmson 發(fā)現(xiàn)電子

1924 Louis de Broglie (1929 年諾貝爾物理獎(jiǎng)得主）提出電子本身具有波動(dòng)的物理特性，進(jìn)一步提供電子顯微鏡的理論基礎(chǔ)

1926 Busch 發(fā)現(xiàn)電子可像光線經(jīng)過(guò)玻璃透鏡偏折一般，由電磁場(chǎng)的改變而偏折

1931德國(guó)物理學(xué)家Knoll 及Ruska 首先發(fā)展出穿透式電子顯微鏡原型機(jī)

1937 首部商業(yè)原型機(jī)制造成功（Metropolitan Vickers 牌）

1938 第一部掃描電子顯微鏡由Von Ardenne 發(fā)展成功