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sem為什么有些地方亮

發(fā)布時間：2023-04-07 17:51:29 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 101

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本文目錄:

1、簡要說明sem的二次電子像的成像原理,二次電子像主要反映試樣的什么特征
2、
3、
4、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

sem為什么有些地方亮

一、簡要說明sem的二次電子像的成像原理,二次電子像主要反映試樣的什么特征

你說的是SEM電鏡吧，這主要是它的成像原理導致的其可以反映樣品表面或者斷面的形貌信息。SEM的工作原理為：從電子槍陰極發(fā)出的直徑20(m～30(m的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發(fā)出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成電壓信號，最后被送到顯像管的柵極上并且調制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，并且這種掃描運動與樣品表面的電子束的掃描運動嚴格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號強度相對應的掃描電子像，這種圖象反映了樣品表面的形貌特征。

二、

三、

四、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當于將1毫米放大到500米。同時，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產生電子束撞擊樣品原子的電子層，產生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項技術也被稱為X射線微探技術，對于分析槍擊痕跡非常有用。

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