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SEM測(cè)定樣品的具體流程(sem測(cè)定樣品的具體流程圖)
大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于SEM測(cè)定樣品的具體流程的問(wèn)題,以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。
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本文目錄:
一、請(qǐng)問(wèn)大家,SEM樣品都是如何進(jìn)行前處理的?
用乙醇分散一下,然后涂在導(dǎo)電膠上,最后用洗耳球吹一下,把多余的吹掉
二、超細(xì)銀粉sem制樣怎么做
(1)對(duì)清洗過(guò)后的溶液,進(jìn)行稀釋過(guò)后采用的是上清液做測(cè)試還是下層濃溶液測(cè)試(理論粒徑為50nm和200nm)
最好都測(cè)試一下,二者可能尺寸上面有區(qū)別。
(2)銀粉溶液制備成功以后,沒(méi)有立即表征,遮光靜置幾天后,再做電鏡表征,是否有影響
只要排除對(duì)于樣品無(wú)影響,可以。
(3)是否需要干燥以后,取出粉末,再用乙醇溶解,取用這個(gè)溶液制樣
可以滴在導(dǎo)電硅片上。也可以做粉末置于導(dǎo)電膠上。
三、請(qǐng)教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測(cè)試的先后順序?
薄膜樣品做XRD、SEM和AFM測(cè)試沒(méi)有固定的先后順序。在這三個(gè)測(cè)試中原子力顯微鏡更具有優(yōu)勢(shì)。想了解更詳細(xì)的信息,推薦咨詢(xún)Park原子力顯微鏡。Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。在高真空條件下執(zhí)行掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡測(cè)量可減少所需的針尖-樣本相互作用力,從而大幅度降低對(duì)樣本和針尖的損傷。如此可延長(zhǎng)各針尖的使用壽命,使掃描更加低成本和便捷,并通過(guò)提高空間分辨率和信噪比得到更為精確的結(jié)果。因此,利用NX-Hivac進(jìn)行的高真空掃描擴(kuò)散電阻顯微術(shù)測(cè)量可謂是故障分析工程師增加其吞吐量、減少成本和提高準(zhǔn)確性的明智選擇。
XRD、 SEM、AFD三者的區(qū)別:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用來(lái)獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)。
2、 SEM(掃描電子顯微鏡)是一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
3、 AFM (原子力顯微鏡)是一種表面觀測(cè)儀器,與掃描隧道顯微鏡相比,能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話,需要?jiǎng)冸x研磨制成粉末樣品。SEM和AFM根據(jù)樣品的特性選擇一個(gè)測(cè)試就可以。測(cè)試時(shí)通常是選擇同批次,同條件的幾個(gè)樣品分別去測(cè)形貌和組分。按照預(yù)約測(cè)試時(shí)間來(lái)安排測(cè)試順序。
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四、想對(duì)樣品形貌做SEM測(cè)試,求助~謝謝了,大神幫忙啊
如果是幾百納米就不能算是納米顆粒吧,印象中納米材料是指直徑在100nm以下的吧 查看更多答案>>
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